|
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)
Метод диффузии цинка в InP через узкий зазор с использованием планарного источника на основе Zn$_{3}$P$_{2}$
М. О. Петрушков, М. А. Путято, И. Б. Чистохин, Б. Р. Семягин, Е. А. Емельянов, М. Ю. Есин, Т. А. Гаврилова, А. В. Васев, В. В. Преображенский Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, г. Новосибирск
Аннотация:
Представлен оригинальный метод диффузии цинка через узкий зазор в InP, позволяющий воспроизводимо формировать $p$–$n$-переходы с заданной глубиной легирования без нарушения морфологии поверхности легируемых слоев. На образцах, легированных этим методом, получены профили распределения носителей заряда в слоях InP. С помощью растровой электронной микроскопии на сколах образцов определена глубина диффузии цинка.
Поступила в редакцию: 08.12.2017
Образец цитирования:
М. О. Петрушков, М. А. Путято, И. Б. Чистохин, Б. Р. Семягин, Е. А. Емельянов, М. Ю. Есин, Т. А. Гаврилова, А. В. Васев, В. В. Преображенский, “Метод диффузии цинка в InP через узкий зазор с использованием планарного источника на основе Zn$_{3}$P$_{2}$”, Письма в ЖТФ, 44:14 (2018), 19–25; Tech. Phys. Lett., 44:7 (2018), 612–614
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pjtf5745 https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v44/i14/p19
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 49 | PDF полного текста: | 8 |
|