Письма в Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Письма в ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Письма в Журнал технической физики, 2019, том 45, выпуск 2, страницы 50–54
DOI: https://doi.org/10.21883/PJTF.2019.02.47225.17557 (Mi pjtf5570) 		 
Эта публикация цитируется в 5 научных статьях (всего в 5 статьях)

Новый подход к анализу фазового состава углеродсодержащих материалов методом времяпролетной вторично-ионной масс-спектрометрии

М. Н. Дроздовa, Ю. Н. Дроздовa, А. И. Охапкинa, С. А. Краевa, М. А. Лобаевb

a Институт физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород
b Институт прикладной физики РАН, г. Нижний Новгород
PDF полного текста (210 kB) Список цитирования (5)
DOI: https://doi.org/10.21883/PJTF.2019.02.47225.17557
Аннотация: Исследуются новые возможности метода вторично-ионной масс-спектрометрии для анализа фазового состава углеродсодержащих материалов. Установлено отличие масс-спектров трех различных фаз углерода: алмаза, алмазоподобного углерода (DLC) и графита. Предложен простой алгоритм количественного определения концентрации различных фаз в двухфазных системах алмаз–графит и DLC–графит, основанный на измерении отношений интенсивностей кластерных вторичных ионов C$_{8}$/C$_{5}$ и CsC$_{8}$/CsC$_{4}$. Показано формирование неоднородных распределений разных фаз углерода по глубине в структурах алмаза после процесса лазерной резки и в DLC после термического отжига.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский фонд фундаментальных исследований 18-02-00565
Российский научный фонд 17-19-01580
Работа поддерживалась РФФИ (проект № 18-02-00565) в части развития методики ВИМС и РНФ (проект № 17-19-01580) в части изготовления тестовых структур и отработки технологических методов обработки алмазов для задач алмазной электроники.
Поступила в редакцию: 11.10.2018
Англоязычная версия:
Technical Physics Letters, 2019, Volume 45, Issue 1, Pages 48–52
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063785019010231
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: М. Н. Дроздов, Ю. Н. Дроздов, А. И. Охапкин, С. А. Краев, М. А. Лобаев, “Новый подход к анализу фазового состава углеродсодержащих материалов методом времяпролетной вторично-ионной масс-спектрометрии”, Письма в ЖТФ, 45:2 (2019), 50–54; Tech. Phys. Lett., 45:1 (2019), 48–52
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{DroDroOkh19}
\by М.~Н.~Дроздов, Ю.~Н.~Дроздов, А.~И.~Охапкин, С.~А.~Краев, М.~А.~Лобаев
\paper Новый подход к анализу фазового состава углеродсодержащих материалов методом времяпролетной вторично-ионной масс-спектрометрии
\jour Письма в ЖТФ
\yr 2019
\vol 45
\issue 2
\pages 50--54
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pjtf5570}
\crossref{https://doi.org/10.21883/PJTF.2019.02.47225.17557}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=37481281}
\transl
\jour Tech. Phys. Lett.
\yr 2019
\vol 45
\issue 1
\pages 48--52
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063785019010231}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf5570
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v45/i2/p50
    • Эта публикация цитируется в следующих 5 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Письма в Журнал технической физики Письма в Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:34
    PDF полного текста:10
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024