Письма в Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Письма в ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Письма в Журнал технической физики, 2019, том 45, выпуск 4, страницы 34–37
DOI: https://doi.org/10.21883/PJTF.2019.04.47335.17583 (Mi pjtf5532) 		 
Эта публикация цитируется в 5 научных статьях (всего в 5 статьях)

Электронная микроскопия и элементный состав приповерхностного слоя кристаллов LiF, облученных электронами

М. А. Муссаеваa, Э. М. Ибрагимоваab

a Институт ядерной физики АН Республики Узбекистан, г. Ташкент, пос. Улугбек
b Центр передовых технологий при Министерстве инновационного развития Республики Узбекистан, Ташкент, Узбекистан
PDF полного текста (1227 kB) Список цитирования (5)
DOI: https://doi.org/10.21883/PJTF.2019.04.47335.17583
Аннотация: Методами электронной микроскопии и колебательных спектров исследованы наночастицы Li, сформированные на сколотой поверхности кристаллов LiF при облучении пучком электронов с энергией 4 MeV дозой 5$\cdot$10$^{16}$ cm$^{-2}$. Предполагается, что при интенсивном облучении в результате ионизации происходит радиолиз и удаление фтора по межблочным границам, где оставшиеся катионы лития нейтрализуются электронами и образуют наночастицы Li, которые собираются и взаимно ориентируются в микронити. Такая функциональная поверхность представляет практический интерес.
Финансовая поддержка Номер гранта
Министерство Инновационного развития Республики Узбекистан ОТ-Ф2-26
Работа поддержана грантом ОТ-Ф2-26 Министерства инновационного развития Республики Узбекистан и Центром передовых технологий Министерства инновационного развития Республики Узбекистан, предоставившим аналитические приборы.
Поступила в редакцию: 12.11.2018
Исправленный вариант: 21.11.2018
Принята в печать: 21.11.2018
Англоязычная версия:
Technical Physics Letters, 2019, Volume 45, Issue 2, Pages 155–158
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063785019020299
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: М. А. Муссаева, Э. М. Ибрагимова, “Электронная микроскопия и элементный состав приповерхностного слоя кристаллов LiF, облученных электронами”, Письма в ЖТФ, 45:4 (2019), 34–37; Tech. Phys. Lett., 45:2 (2019), 155–158
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{MusIbr19}
\by М.~А.~Муссаева, Э.~М.~Ибрагимова
\paper Электронная микроскопия и элементный состав приповерхностного слоя кристаллов LiF, облученных электронами
\jour Письма в ЖТФ
\yr 2019
\vol 45
\issue 4
\pages 34--37
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pjtf5532}
\crossref{https://doi.org/10.21883/PJTF.2019.04.47335.17583}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=37481328}
\transl
\jour Tech. Phys. Lett.
\yr 2019
\vol 45
\issue 2
\pages 155--158
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063785019020299}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf5532
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v45/i4/p34
    • Эта публикация цитируется в следующих 5 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Письма в Журнал технической физики Письма в Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:51
    PDF полного текста:23
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024