|
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)
Дефекты с глубокими уровнями в фотоэлектрическом преобразователе с антиотражающей пленкой пористого кремния, сформированной окрашивающим химическим травлением
В. В. Трегуловa, В. Г. Литвиновb, А. В. Ермачихинb a Рязанский государственный университет имени С. А. Есенина
b Рязанский государственный радиотехнический университет
Аннотация:
Методом токовой релаксационной спектроскопии глубоких уровней проведено исследование дефектов в полупроводниковой структуре фотоэлектрического преобразователя с $p$–$n$-переходом и антиотражающей пленкой пористого кремния, изготовленной с применением химического окрашивающего травления. Предложено объяснение влияния режимов формирования пленки пористого кремния на характер трансформации дефектов с глубокими уровнями и основные характеристики фотоэлектрического преобразователя.
Поступила в редакцию: 16.11.2018 Исправленный вариант: 16.11.2018 Принята в печать: 21.11.2018
Образец цитирования:
В. В. Трегулов, В. Г. Литвинов, А. В. Ермачихин, “Дефекты с глубокими уровнями в фотоэлектрическом преобразователе с антиотражающей пленкой пористого кремния, сформированной окрашивающим химическим травлением”, Письма в ЖТФ, 45:4 (2019), 24–27; Tech. Phys. Lett., 45:2 (2019), 145–148
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pjtf5529 https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v45/i4/p24
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 53 | PDF полного текста: | 16 |
|