Письма в Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Письма в ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Письма в Журнал технической физики, 2019, том 45, выпуск 4, страницы 17–20
DOI: https://doi.org/10.21883/PJTF.2019.04.47330.17581
(Mi pjtf5527)
 

Сканирующая ближнепольная оптическая наноспектрофотометрия: метод наномасштабного измерения спектров поглощения единичных нанообъектов

К. Е. Мочаловa, Д. О. Соловьеваa, И. С. Васканabc, И. Р. Набиевbd

a Лаборатория биофизики, Институт биоорганической химии им. акад. М.М. Шемякина и Ю.А. Овчинникова РАН, Москва, Россия
b Лаборатория нанобиоинженерии, Национальный исследовательский ядерный университет ”МИФИ“ (Московский инженерно-физический институт), Москва, Россия
c Московский физико-технический институт (государственный университет), Московская облаcть, г. Долгопрудный
d Лаборатория по исследованиям в области нанонаук, Университет г. Реймса, Шампань-Арденн, Реймс, Франция
Аннотация: Разработана экспериментальная методика наномасштабного измерения спектров поглощения единичных нанообъектов на основе использования сканирующей ближнепольной оптической микроспектроскопии – СБОМ-наноспектрофотометрия. Основным отличием разработанной методики является нанесение образцов на покровные стекла с последующим введением в них возбуждающего излучения в режиме полного внутреннего отражения. Предложенный подход позволяет существенно увеличить количество исследуемых образцов, а также дает возможность проводить исследования с одновременным использованием других оптических методов анализа. Разработанная методика применена для исследования единичных плазмонных наночастиц и их комплексов с красителем родамин 6Ж.
Финансовая поддержка Номер гранта
Министерство образования и науки Российской Федерации 16.1034.2017/ПЧ
Работа выполнена при поддержке Министерства науки и высшего образования РФ (государственный контракт № 16.1034.2017/ПЧ).
Поступила в редакцию: 07.11.2018
Исправленный вариант: 07.11.2018
Принята в печать: 21.11.2018
Англоязычная версия:
Technical Physics Letters, 2019, Volume 45, Issue 2, Pages 138–141
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063785019020287
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: К. Е. Мочалов, Д. О. Соловьева, И. С. Васкан, И. Р. Набиев, “Сканирующая ближнепольная оптическая наноспектрофотометрия: метод наномасштабного измерения спектров поглощения единичных нанообъектов”, Письма в ЖТФ, 45:4 (2019), 17–20; Tech. Phys. Lett., 45:2 (2019), 138–141
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{MocSolVas19}
\by К.~Е.~Мочалов, Д.~О.~Соловьева, И.~С.~Васкан, И.~Р.~Набиев
\paper Сканирующая ближнепольная оптическая наноспектрофотометрия: метод наномасштабного измерения спектров поглощения единичных нанообъектов
\jour Письма в ЖТФ
\yr 2019
\vol 45
\issue 4
\pages 17--20
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pjtf5527}
\crossref{https://doi.org/10.21883/PJTF.2019.04.47330.17581}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=37481323}
\transl
\jour Tech. Phys. Lett.
\yr 2019
\vol 45
\issue 2
\pages 138--141
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063785019020287}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf5527
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v45/i4/p17
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Письма в Журнал технической физики Письма в Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:41
    PDF полного текста:12
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024