Аннотация:
Проведено исследование спектров фотолюминесценции в гетероструктурах 3CC-SiC/4HH-SiC и монокристаллах 3CC-SiC. Показано, что эпитаксиальные слои 3CC-SiC, выращенные на подложках 4HH-SiC, имеют существенно меньшее структурное совершенство, чем монокристаллы 3CC-SiC. Обнаружено, что легирование алюминием приводит к появлению характерной фотолюминесценции как в эпитаксиальных слоях, так и в монокристаллах 3CC-SiC. В то же время облучение электронами эпитаксиальных слоев не приводит к появлению “дефектной” фотолюминесценции, как это наблюдается для монокристаллов. Высказано предположение, что существующие в эпитаксиальных слоях 3CC-SiC двойниковые границы могли служить геттерами радиационных дефектов, являющихся компонентами донорно-акцепторных пар, ответственных за “дефектную” фотолюминесценцию.
Образец цитирования:
А. А. Лебедев, И. П. Никитина, Н. В. Середова, Н. К. Полетаев, С. П. Лебедев, В. В. Козловский, А. В. Зубов, “Исследование влияния структурных дефектов на спектры фотолюминесценции в nn-3CC-SiC”, Письма в ЖТФ, 45:11 (2019), 28–30; Tech. Phys. Lett., 45:6 (2019), 557–559
\RBibitem{LebNikSer19}
\by А.~А.~Лебедев, И.~П.~Никитина, Н.~В.~Середова, Н.~К.~Полетаев, С.~П.~Лебедев, В.~В.~Козловский, А.~В.~Зубов
\paper Исследование влияния структурных дефектов на спектры фотолюминесценции в $n$-3$C$-SiC
\jour Письма в ЖТФ
\yr 2019
\vol 45
\issue 11
\pages 28--30
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pjtf5420}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=41131035}
\transl
\jour Tech. Phys. Lett.
\yr 2019
\vol 45
\issue 6
\pages 557--559
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063785019060117}
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pjtf5420
https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v45/i11/p28
Эта публикация цитируется в следующих 3 статьяx:
Kassahun Lewetegn, Habtamu Birhanu, Yong Liu, Paulos Taddesse, “Synthesis of Zn0.87(Fe, Al)0.065O – MO (MO = NiO, Fe2O3, CuO, and CoO) nanocomposites: structural, vibrational, optical and antibacterial studies”, Journal of Molecular Structure, 2024, 139401
В. В. Козловский, O. Корольков, К. С. Давыдовская, А. А. Лебедев, М. Е. Левинштейн, Н. Слепчук, А. М. Стрельчук, J. Toompuu, “Влияние температуры протонного облучения на характеристики мощных высоковольтных карбид-кремниевых диодов Шоттки”, Письма в ЖТФ, 46:6 (2020), 35–37; V. V. Kozlovsky, O. Korolkov, K. S. Davydovskaja, A. A. Lebedev, M. E. Levinshteǐn, N. Sleptsuk, A. M. Strel'chuk, J. Toompuu, “Influence of the proton irradiation temperature on the characteristics of high-power high-voltage silicon carbide Schottky diodes”, Tech. Phys. Lett., 46:3 (2020), 287–289
Dmitrii Raskhodchikov, Vladimir Kaasik, Andrey Lipovskii, 2020 IEEE International Conference on Electrical Engineering and Photonics (EExPolytech), 2020, 210