|
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)
Сквозное концентрационное профилирование гетероструктурных солнечных элементов
Г. Е. Яковлевa, И. А. Няпшаевbc, И. С. Шахрайb, Д. А. Андрониковb, В. И. Зубковa, Е. И. Теруковabc a Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В. И. Ульянова (Ленина)
b НТЦ тонкопленочных технологий в энергетике, г. С.-Петербург
c Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
Аннотация:
Методом электрохимического вольт-фарадного профилирования исследованы гетероструктурные солнечные элементы на основе монокристаллического кремния. Проанализированы особенности электрохимического вольт-фарадного профилирования современных многослойных гетероструктурных солнечных элементов. Получены профили распределения концентрации основных носителей заряда по всей толщине образцов, в том числе впервые в слоях проводящего оксида индия-олова.
Ключевые слова:
электрохимическое вольт-фарадное профилирование, гетероструктурные солнечные элементы, монокристаллический кремний, аморфный кремний.
Поступила в редакцию: 17.05.2019 Исправленный вариант: 17.05.2019 Принята в печать: 31.05.2019
Образец цитирования:
Г. Е. Яковлев, И. А. Няпшаев, И. С. Шахрай, Д. А. Андроников, В. И. Зубков, Е. И. Теруков, “Сквозное концентрационное профилирование гетероструктурных солнечных элементов”, Письма в ЖТФ, 45:17 (2019), 39–42; Tech. Phys. Lett., 45:9 (2019), 890–893
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pjtf5336 https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v45/i17/p39
|
|