Письма в Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Письма в ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Письма в Журнал технической физики, 2019, том 45, выпуск 22, страницы 3–6
DOI: https://doi.org/10.21883/PJTF.2019.22.48639.17951 (Mi pjtf5258) 		 
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)

Влияние потока низкотемпературной плазмы азота на морфологию, электрические и УФ-проводящие свойства пленок ZnO на сапфире

М. Х. Гаджиевa, А. С. Тюфтяевa, А. Э. Муслимовb, В. М. Каневскийb, А. М. Исмаиловc, В. А. Бабаевc

a Объединенный институт высоких температур РАН, г. Москва
b Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН, Москва, Россия
c Дагестанский государственный университет, г. Махачкала
PDF полного текста (410 kB) Список цитирования (2)
DOI: https://doi.org/10.21883/PJTF.2019.22.48639.17951
Аннотация: Приведены результаты исследования влияния потока высокоэнтальпийной низкотемпературной плазмы азота, генерируемого плазмотроном постоянного тока, на морфологию, электрические и УФ-проводящие свойства пленок ZnO на сапфире. Показано, что сопротивление пленок ZnO после обработки плазмой азота возрастает (максимально в 10$^{4}$ раз) и они демонстрируют отчетливый отклик на ультрафиолетовое освещение. УФ-чувствительность по току и контрастность тока образцов при 6 V имеют величины порядка 3.6 $\cdot$ 10$^{-5}$ A/W и 16 соответственно. Время нарастания и спада фототока $\sim$0.45 s.
Ключевые слова: оксид цинка, низкотемпературная плазма, плазмотрон.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский фонд фундаментальных исследований 18-29-24203мк
20-08-00598а
Работа выполнена при поддержке Министерства науки и высшего образования РФ в рамках работ по государственному заданию ФГБУ ОИВТ РАН в части нитридизации пленок и ФНИЦ “Кристаллография и фотоника” в части характеризации пленок, а также при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (гранты 18-29-24203мк, 20-08-00598а).
Поступила в редакцию: 27.06.2019
Исправленный вариант: 22.07.2019
Принята в печать: 22.07.2019
Англоязычная версия:
Technical Physics Letters, 2019, Volume 45, Issue 11, Pages 1118–1121
DOI: https://doi.org/10.1134/S106378501911021X
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: М. Х. Гаджиев, А. С. Тюфтяев, А. Э. Муслимов, В. М. Каневский, А. М. Исмаилов, В. А. Бабаев, “Влияние потока низкотемпературной плазмы азота на морфологию, электрические и УФ-проводящие свойства пленок ZnO на сапфире”, Письма в ЖТФ, 45:22 (2019), 3–6; Tech. Phys. Lett., 45:11 (2019), 1118–1121
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{GadTyuMus19}
\by М.~Х.~Гаджиев, А.~С.~Тюфтяев, А.~Э.~Муслимов, В.~М.~Каневский, А.~М.~Исмаилов, В.~А.~Бабаев
\paper Влияние потока низкотемпературной плазмы азота на морфологию, электрические и УФ-проводящие свойства пленок ZnO на сапфире
\jour Письма в ЖТФ
\yr 2019
\vol 45
\issue 22
\pages 3--6
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pjtf5258}
\crossref{https://doi.org/10.21883/PJTF.2019.22.48639.17951}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=41848474}
\transl
\jour Tech. Phys. Lett.
\yr 2019
\vol 45
\issue 11
\pages 1118--1121
\crossref{https://doi.org/10.1134/S106378501911021X}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf5258
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v45/i22/p3
    • Эта публикация цитируется в следующих 2 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Письма в Журнал технической физики Письма в Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:43
    PDF полного текста:15
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024