|
Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)
Деформация элементарной ячейки при прерывистом напылении пленок ниобата бария-стронция
Д. В. Стрюковa, А. В. Павленкоab a Южный научный центр РАН, г. Ростов-на-Дону
b Южный федеральный университет, г. Ростов-на-Дону
Аннотация:
Методом высокочастотного катодного распыления с применением технологии прерывистого напыления изготовлены эпитаксиальные тонкие пленки Sr$_{0.5}$Ba$_{0.5}$Nb$_{2}$O$_{6}$/MgO с различной толщиной слоев, но с одинаковой общей толщиной. Установлено, что уменьшение толщины слоя приводит к увеличению деформации элементарной ячейки, которая сохраняется, если толщина последующих слоев не превышает критическую.
Ключевые слова:
сегнетоэлектрики, прерывистое напыление, деформации элементарной ячейки.
Поступила в редакцию: 18.07.2019 Исправленный вариант: 18.07.2019 Принята в печать: 26.08.2019
Образец цитирования:
Д. В. Стрюков, А. В. Павленко, “Деформация элементарной ячейки при прерывистом напылении пленок ниобата бария-стронция”, Письма в ЖТФ, 45:23 (2019), 23–25; Tech. Phys. Lett., 45:12 (2019), 1191–1193
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pjtf5250 https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v45/i23/p23
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 53 | PDF полного текста: | 31 |
|