Письма в Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Письма в ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Письма в Журнал технической физики, 2020, том 46, выпуск 19, страницы 3–6
DOI: https://doi.org/10.21883/PJTF.2020.19.50034.18389
(Mi pjtf4970)
 

Влияние диффузионных барьеров на емкостные свойства композитных анодов состава Si–CuSi–Cu

Э. Ю. Бучинa, А. А. Мироненкоb, В. В. Наумовb, А. С. Рудыйa

a Ярославский филиал Физико-технологического института им. К.А. Валиева РАН, Ярославль, Россия
b Ярославский государственный университет им. П.Г. Демидова
Аннотация: В качестве анодного материала для жидкостных литий-ионных аккумуляторов исследованы пленочные структуры, состоящие из нескольких одинаковых модулей [Co$(x)$/$\alpha$-Si(100)/Cu(70)], где величина $x$ изменялась от 2 до 10 nm. Показано, что относительно толстые слои кобальта являются эффективными диффузионными барьерами для атомов кремния и меди, а также для ионов лития. Это приводит к снижению емкостных характеристик исследуемых пленок. Тонкие слои кобальта (менее 3 nm), имеющие сетчатую структуру, наоборот, способствуют повышению емкостных характеристик анодных пленок. Это происходит за счет более равномерного распределения в их объеме дрейфовых каналов ионов лития, которые формируются на начальной стадии циклирования электродов.
Ключевые слова: композитная пленка, обратимая емкость анода, циклический ресурс, миграция атомов, барьерный слой, литирование, дрейфовые каналы.
Финансовая поддержка Номер гранта
Министерство образования и науки Российской Федерации 0856-2020-0006
Работа выполнена при финансовой поддержке Минобрнауки РФ в рамках государственного задания ЯрГУ им. П.Г. Демидова № 0856-2020-0006.
Поступила в редакцию: 21.05.2020
Исправленный вариант: 21.05.2020
Принята в печать: 12.06.2020
Англоязычная версия:
Technical Physics Letters, 2020, Volume 46, Issue 10, Pages 943–946
DOI: https://doi.org/10.1134/S106378502010003X
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Э. Ю. Бучин, А. А. Мироненко, В. В. Наумов, А. С. Рудый, “Влияние диффузионных барьеров на емкостные свойства композитных анодов состава Si–CuSi–Cu”, Письма в ЖТФ, 46:19 (2020), 3–6; Tech. Phys. Lett., 46:10 (2020), 943–946
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{BucMirNau20}
\by Э.~Ю.~Бучин, А.~А.~Мироненко, В.~В.~Наумов, А.~С.~Рудый
\paper Влияние диффузионных барьеров на емкостные свойства композитных анодов состава Si--CuSi--Cu
\jour Письма в ЖТФ
\yr 2020
\vol 46
\issue 19
\pages 3--6
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pjtf4970}
\crossref{https://doi.org/10.21883/PJTF.2020.19.50034.18389}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=44257978}
\transl
\jour Tech. Phys. Lett.
\yr 2020
\vol 46
\issue 10
\pages 943--946
\crossref{https://doi.org/10.1134/S106378502010003X}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf4970
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v46/i19/p3
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Письма в Журнал технической физики Письма в Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:39
    PDF полного текста:12
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024