|
Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)
Низкотемпературный рост кубической фазы CdS методом атомно-слоевого осаждения на гибридных подложках SiC/Si
С. А. Кукушкинab, А. В. Осиповa, А. И. Романычевc, И. А. Касаткинc, А. С. Лошаченкоc a Институт проблем машиноведения РАН, г. Санкт-Петербург
b Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
c Санкт-Петербургский государственный университет
Аннотация:
Разработан новый метод эпитаксиального роста пленок сульфида кадмия (CdS) в метастабильной кубической фазе на подложках кремния с буферным слоем эпитаксиального карбида кремния путем атомно-слоевого осаждения. Данная фаза CdS достигается за счет низкой температуры роста ($\sim$180$^\circ$C). Идентификация кубической фазы выполнена как с помощью дифракции рентгеновских лучей, так и методом спектральной эллипсометрии за счет того, что основной пик поглощения света CdS в гексагональной фазе расщеплен на два пика: 4.9 и 5.4 eV, а в кубической фазе является нерасщепленным (вырожденным): 5.1 eV.
Ключевые слова:
cульфид кадмия, карбид кремния, гетероструктуры, метод атомно-слоевого осаждения, диэлектрическая проницаемость, эллипсометрия.
Поступила в редакцию: 14.07.2020 Исправленный вариант: 14.07.2020 Принята в печать: 22.07.2020
Образец цитирования:
С. А. Кукушкин, А. В. Осипов, А. И. Романычев, И. А. Касаткин, А. С. Лошаченко, “Низкотемпературный рост кубической фазы CdS методом атомно-слоевого осаждения на гибридных подложках SiC/Si”, Письма в ЖТФ, 46:21 (2020), 3–6; Tech. Phys. Lett., 46:11 (2020), 1049–1052
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pjtf4943 https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v46/i21/p3
|
|