Письма в Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Письма в ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Письма в Журнал технической физики, 2020, том 46, выпуск 24, страницы 3–6
DOI: https://doi.org/10.21883/PJTF.2020.24.50418.18517
(Mi pjtf4903)
 

Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)

Влияние давления при эпитаксии на свойства слоев GaN

А. В. Сахаровa, В. В. Лундинa, Е. Е. Заваринa, С. О. Усовb, П. Н. Брунковa, А. Ф. Цацульниковb

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Научно-технологический центр микроэлектроники и субмикронных гетероструктур РАН, г. Санкт-Петербург
Аннотация: Проведено исследование выращивания слоев GaN методом газофазной эпитаксии из металлоорганических соединений на сапфировых подложках при различных давлениях в реакторе, в том числе выше атмосферного. Показано, что эпитаксиальный рост при более высоком давлении не изменяет кристаллическое совершенство слоев, подвижность электронов и фоновое вхождение примесей, но приводит к формированию поверхности с меньшим латеральным масштабом неоднородностей. Давление при эпитаксии также влияет на соотношение интенсивностей краевых и примесных линий в спектре фотолюминесценции и токи утечки в обратносмещенном барьере Шоттки.
Ключевые слова: МОС-гидридная эпитаксия, нитриды III группы, морфология, люминесценция.
Финансовая поддержка Номер гранта
Министерство образования и науки Российской Федерации RFMEFI62119X0021
Измерения методами рентгеновской дифракции и атомно-силовой микроскопии проводились с использованием оборудования ЦКП “Материаловедение и диагностика в передовых технологиях” (ФТИ им. А.Ф. Иоффе), поддерживаемого Министерством науки и высшего образования РФ (уникальный идентификатор проекта RFMEFI62119X0021).
Поступила в редакцию: 18.08.2020
Исправленный вариант: 03.09.2020
Принята в печать: 03.09.2020
Англоязычная версия:
Technical Physics Letters, 2020, Volume 46, Issue 12, Pages 1211–1214
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063785020120263
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: А. В. Сахаров, В. В. Лундин, Е. Е. Заварин, С. О. Усов, П. Н. Брунков, А. Ф. Цацульников, “Влияние давления при эпитаксии на свойства слоев GaN”, Письма в ЖТФ, 46:24 (2020), 3–6; Tech. Phys. Lett., 46:12 (2020), 1211–1214
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{SakLunZav20}
\by А.~В.~Сахаров, В.~В.~Лундин, Е.~Е.~Заварин, С.~О.~Усов, П.~Н.~Брунков, А.~Ф.~Цацульников
\paper Влияние давления при эпитаксии на свойства слоев GaN
\jour Письма в ЖТФ
\yr 2020
\vol 46
\issue 24
\pages 3--6
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pjtf4903}
\crossref{https://doi.org/10.21883/PJTF.2020.24.50418.18517}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=44574279}
\transl
\jour Tech. Phys. Lett.
\yr 2020
\vol 46
\issue 12
\pages 1211--1214
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063785020120263}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf4903
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v46/i24/p3
  • Эта публикация цитируется в следующих 2 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Письма в Журнал технической физики Письма в Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:48
    PDF полного текста:19
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024