|
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)
Эффект саморазогрева в беспереходных вертикальных полевых транзисторах на основе структур “кремний на изоляторе” с различной формой базы
А. Э. Aтамуратовa, Б. О. Жаббароваa, М. M. Халиллоев, A. Юсуповb a Ургенчский государственный университет им. Аль-Хорезми
b Ташкентский университет информационных технологий им. Мухаммада аль-Хорезми, Ташкент, Узбекистан
Аннотация:
Моделируется эффект саморазогрева в наномасштабном беспереходном вертикальном полевом транзисторе, изготовленном на основе структур “кремний на изоляторе” с поперечным сечением базы транзистора в форме прямоугольника, трапеции и треугольника. Показано, что для рассматриваемых структур температура в середине транзистора ниже, чем по его боковым граням около истока и стока. Помимо этого при прочих одинаковых условиях температура решетки зависит также от формы поперечного сечения базы.
Ключевые слова:
эффект саморазогрева, температура решетки, теплопроводность, беспереходный FinFET-транзистор.
Поступила в редакцию: 29.12.2020 Исправленный вариант: 08.03.2021 Принята в печать: 08.03.2021
Образец цитирования:
А. Э. Aтамуратов, Б. О. Жаббарова, М. M. Халиллоев, A. Юсупов, “Эффект саморазогрева в беспереходных вертикальных полевых транзисторах на основе структур “кремний на изоляторе” с различной формой базы”, Письма в ЖТФ, 47:11 (2021), 26–29; Tech. Phys. Lett., 47:7 (2021), 542–545
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pjtf4772 https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v47/i11/p26
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 48 | PDF полного текста: | 14 |
|