|
Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)
Численное моделирование вольт-амперной характеристики биполярного мемристора на основе оксида гафния
А. Н. Алёшин, Н. В. Зенченко, О. А. Рубан Институт сверхвысокочастотной полупроводниковой электроники им. В. Г. Мокерова РАН, г. Москва
Аннотация:
Разработана конечно-элементная модель, позволяющая рассчитывать вольт-амперную характеристику биполярного мемристора на основе оксида гафния Pt/HfO$_{2}$/TiN, которая отражает как высокоомное, так и низкоомное состояние мемристора. Математическим базисом модели явились уравнения Максвелла для стационарного случая. Модель позволяет оценивать связь свойств материалов, входящих в конструкцию мемристора, с его рабочим током.
Ключевые слова:
биполярный мемристор, оксид гафния, метод конечных элементов, моделирование.
Поступила в редакцию: 06.06.2020 Исправленный вариант: 22.03.2021 Принята в печать: 06.04.2021
Образец цитирования:
А. Н. Алёшин, Н. В. Зенченко, О. А. Рубан, “Численное моделирование вольт-амперной характеристики биполярного мемристора на основе оксида гафния”, Письма в ЖТФ, 47:13 (2021), 39–42; Tech. Phys. Lett., 47:9 (2021), 636–640
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pjtf4749 https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v47/i13/p39
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 59 | PDF полного текста: | 27 |
|