Письма в Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Письма в ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Письма в Журнал технической физики, 2021, том 47, выпуск 15, страницы 3–6
DOI: https://doi.org/10.21883/PJTF.2021.15.51224.18821 (Mi pjtf4714) 		 
Структурная характеризация короткопериодной сверхрешетки на основе гетероструктуры CdF$_{2}$/CaF$_{2}$/Si(111) методами просвечивающей электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии

Л. М. Сорокин, Р. Н. Кютт, В. В. Ратников, А. Е. Калмыков

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
PDF полного текста (685 kB)
DOI: https://doi.org/10.21883/PJTF.2021.15.51224.18821
Аннотация: Проведено детальное исследование структуры короткопериодной сверхрешетки на основе чередующихся слоев фторидов кадмия и кальция, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии на кремниевой подложке (111), методами просвечивающей электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии. Установлено, что сверхрешетка находится в псевдоморфном состоянии, найдена латеральная неоднородность с размером фрагментов 10 – 40 nm. Выяснена причина уширения основного и сателлитных пиков сверхрешетки на кривой дифракции (111).
Ключевые слова: сверхрешетка, CdF$_2$, CaF$_2$, просвечивающая электронная микроскопия, рентгеновская дифрактометрия.
Поступила в редакцию: 09.04.2021
Исправленный вариант: 09.04.2021
Принята в печать: 21.04.2021
Англоязычная версия:
Technical Physics Letters, 2021, Volume 47, Issue 12, Pages 893–896
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063785021080125
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Л. М. Сорокин, Р. Н. Кютт, В. В. Ратников, А. Е. Калмыков, “Структурная характеризация короткопериодной сверхрешетки на основе гетероструктуры CdF$_{2}$/CaF$_{2}$/Si(111) методами просвечивающей электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии”, Письма в ЖТФ, 47:15 (2021), 3–6; Tech. Phys. Lett., 47:12 (2021), 893–896
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{SorKyuRat21}
\by Л.~М.~Сорокин, Р.~Н.~Кютт, В.~В.~Ратников, А.~Е.~Калмыков
\paper Структурная характеризация короткопериодной сверхрешетки на основе гетероструктуры CdF$_{2}$/CaF$_{2}$/Si(111) методами просвечивающей электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии
\jour Письма в ЖТФ
\yr 2021
\vol 47
\issue 15
\pages 3--6
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pjtf4714}
\crossref{https://doi.org/10.21883/PJTF.2021.15.51224.18821}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=46333488}
\transl
\jour Tech. Phys. Lett.
\yr 2021
\vol 47
\issue 12
\pages 893--896
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063785021080125}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf4714
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v47/i15/p3
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Письма в Журнал технической физики Письма в Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:74
    PDF полного текста:26
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025