|
Письма в Журнал технической физики, 1991, том 17, выпуск 17, страницы 7–12
(Mi pjtf3958)
|
|
|
|
Исследование структуры тонких эпитаксиальных слоев CaF$_{2}$
на Si (111) методами примесной фотолюминесценции и стоячих рентгеновских волн
Х. К. Альварес, А. Ю. Казимиров, М. В. Ковальчук, А. Я. Крейнес, Н. С. Соколов, Т. Ю. Фидченко, Н. Л. Яковлев
Образец цитирования:
Х. К. Альварес, А. Ю. Казимиров, М. В. Ковальчук, А. Я. Крейнес, Н. С. Соколов, Т. Ю. Фидченко, Н. Л. Яковлев, “Исследование структуры тонких эпитаксиальных слоев CaF$_{2}$
на Si (111) методами примесной фотолюминесценции и стоячих рентгеновских волн”, Письма в ЖТФ, 17:17 (1991), 7–12
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pjtf3958 https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v17/i17/p7
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 66 | PDF полного текста: | 18 |
|