Письма в Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Письма в ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Письма в Журнал технической физики, 1989, том 15, выпуск 17, страницы 30–33 (Mi pjtf2852)  
Электронный аналог метода обратного рассеяния быстрых ионов для исследования глубинных профилей дефектов в монокристаллах

В. В. Макаров, В. П. Артемьев, Н. Н. Петров
PDF полного текста (331 kB)
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: В. В. Макаров, В. П. Артемьев, Н. Н. Петров, “Электронный аналог метода обратного рассеяния быстрых ионов для исследования глубинных профилей дефектов в монокристаллах”, Письма в ЖТФ, 15:17 (1989), 30–33
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Mak89}
\by В.~В.~Макаров, В.~П.~Артемьев, Н.~Н.~Петров
\paper Электронный аналог метода обратного рассеяния быстрых ионов
для исследования глубинных профилей дефектов в~монокристаллах
\jour Письма в ЖТФ
\yr 1989
\vol 15
\issue 17
\pages 30--33
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pjtf2852}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf2852
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v15/i17/p30
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Письма в Журнал технической физики Письма в Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:41
    PDF полного текста:17
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024