Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2020, том 54, выпуск 11, страница 1217 (Mi phts6669)  

Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)

Поверхность, границы раздела, тонкие пленки

Optical parameters of both As$_2$S$_3$ and As$_2$S$_3$ thin films from ultraviolet to the near-infrared via variable-angle spectroscopic ellipsometer

F. Abdel-Wahaba, I. M. Ashrafab, F. B. Ahmeda

a Department of Physics, Faculty of Science, Aswan University, Aswan, Egypt
b Advanced Functional Materials & Optoelectronics Laboratory (AFMOL), Department of Physics, College of Science, King Khalid University, Abha 61413, Saudi Arabia
Аннотация: In the UV-visible–near infrared regions from 245 to 1000 nm, variable-angle spectroscopic ellipsometer (VASE) was used to investigate optical functions of As$_2$S$_3$ and As$_2$S$_3$ thin films. In the entire measured spectral range, data were analyzed by assembly from several dispersion models. These assemblies comprise individual Tauc–Lorentz supplemented by several Lorentz (TL-group) or single Cody–Lorentz with several Lorentz (CL-group) models. For As$_2$S$_3$ and As$_2$S$_3$ thin films, the optical parameters were quantified. The model parameters, such as the Lorentz amplitude, resonance frequency, oscillator width, extinction coefficients, refractive indices, and Urbach and optical band energy of both films were obtained. The band gap energy $E_g$ was experimentally determined using the obtained data of CL-group from $(\alpha hv)^{1/2}$ vs $hv$ plots. It is found that the band gap energies of As$_2$S$_3$ and As$_2$S$_3$ were 1.796 and 2.349 eV, respectively. The $E_g$ values for the films were theoretically investigated by the bond statistics of the random covalent network model (CRNM) with the aid of Manca’s relation. Plausible agreement between the experimental and calculated $E_g$ values for both samples was obtained.
Ключевые слова: chalcogenide thin films, variable-angle spectroscopic ellipsometer, Tauc–Lorentz model, Cody–Lorentz model.
Поступила в редакцию: 25.05.2020
Исправленный вариант: 22.06.2020
Принята в печать: 01.07.2020
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2020, Volume 54, Issue 11, Pages 1430–1438
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782620110020
Тип публикации: Статья
Язык публикации: английский
Образец цитирования: F. Abdel-Wahab, I. M. Ashraf, F. B. Ahmed, “Optical parameters of both As$_2$S$_3$ and As$_2$S$_3$ thin films from ultraviolet to the near-infrared via variable-angle spectroscopic ellipsometer”, Физика и техника полупроводников, 54:11 (2020), 1217; Semiconductors, 54:11 (2020), 1430–1438
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{AbdAshAhm20}
\by F.~Abdel-Wahab, I.~M.~Ashraf, F.~B.~Ahmed
\paper Optical parameters of both As$_2$S$_3$ and As$_2$S$_3$ thin films from ultraviolet to the near-infrared via variable-angle spectroscopic ellipsometer
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2020
\vol 54
\issue 11
\pages 1217
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts6669}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2020
\vol 54
\issue 11
\pages 1430--1438
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782620110020}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts6669
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v54/i11/p1217
  • Эта публикация цитируется в следующих 4 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:47
    PDF полного текста:11
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024