Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2020, том 54, выпуск 4, страница 426 (Mi phts6641)  

Эта публикация цитируется в 26 научных статьях (всего в 26 статьях)

Физика полупроводниковых приборов

TCAD simulation study of single, double, and triple material gate engineered trigate FinFETs

P. Vimalaa, T. S. Arun Samuelb

a Department of Electronics and Communication Engineering, Dayananda Sagar College of Engineering, Bangalore, India
b National Engineering College, Kovilpatti,, Tamilnadu, India
Аннотация: A detailed comparative performance analysis of the Trigate Fin Field Effect Transistor (FinFET) device with different structures such as Single-Material Gate (SMG) FinFET, Double-Material Gate (DMG) FinFET, and Triple- Material Gate (TMG) FinFET has been done. Silvaco Atlas Technology Computer Aided Design (TCAD) tool is used to model the Trigate FinFET device structures and to characterize all the electrical parameters of the device. The simulation results confirm that TMG FinFET device structure shows better performance than SMG and DMG FinFET device structures, in terms of device electrical parameters such as surface potential, electric field, and drain current. Moreover, TMG FinFET device structure exhibits an excellent transconductance of 0.28 $\mu$A/V when compared with SMG FinFET (0.21 $\mu$A/V) and DMG FinFET (0.24 $\mu$A/V).
Ключевые слова: TCAD, Trigate FinFET, drain current, transconductance, output conductance.
Поступила в редакцию: 17.10.2019
Исправленный вариант: 01.12.2019
Принята в печать: 01.12.2019
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2020, Volume 54, Issue 4, Pages 501–505
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782620040211
Тип публикации: Статья
Язык публикации: английский
Образец цитирования: P. Vimala, T. S. Arun Samuel, “TCAD simulation study of single, double, and triple material gate engineered trigate FinFETs”, Физика и техника полупроводников, 54:4 (2020), 426; Semiconductors, 54:4 (2020), 501–505
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{VimAru20}
\by P.~Vimala, T.~S.~Arun Samuel
\paper TCAD simulation study of single, double, and triple material gate engineered trigate FinFETs
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2020
\vol 54
\issue 4
\pages 426
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts6641}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2020
\vol 54
\issue 4
\pages 501--505
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782620040211}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts6641
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v54/i4/p426
  • Эта публикация цитируется в следующих 26 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024