Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2021, том 55, выпуск 5, страница 473 (Mi phts6607)  

Физика полупроводниковых приборов

RF performance investigation of NiO pocket on Ga$_2$O$_3$-based hetero-MOSFET

N. Yadava, R. K. Chauhan

Department of Electronics & Communication Engineering, MMMUT, Gorakhpur, U.P., 273010 India
Аннотация: In this paper, the performance of $p$-type NiO pocket on Ga$_2$O$_3$/Graphene and Ga$_2$O$_3$/Black phosphorous hetero-MOSFET has been investigated to find out its applicability in the wireless applications. To show the utility of the proposed devices, its analog/RF characteristics have been studied and compared to those of the experimentally demonstrated conventional Ga$_2$O$_3$ MOSFET. The large signal RF performances analysis has also been carried out by considering CW Class-A power measurements at 0.8 GHz using passive source and load tuning. The important figure of merits (FOMs) used in the analysis are intrinsic capacitances $C_{\mathrm{GS}}$ and $C_{\mathrm{GD}}$, cutoff frequency $f_{\mathrm{T}}$, output power gain GP, and power-added efficiency. The key idea behind this work is to propose a device which is efficient and shows low leakage current. All the analysis of proposed devices has been carried out using ATLAS TCAD simulator.
Ключевые слова: wide band gap semiconductors, RFICs, high power FOMs, leakages, RF FOMs.
Поступила в редакцию: 27.01.2020
Исправленный вариант: 15.05.2020
Принята в печать: 12.11.2020
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2021, Volume 55, Pages S14–S21
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782621050171
Тип публикации: Статья
Язык публикации: английский
Образец цитирования: N. Yadava, R. K. Chauhan, “RF performance investigation of NiO pocket on Ga$_2$O$_3$-based hetero-MOSFET”, Физика и техника полупроводников, 55:5 (2021), 473; Semiconductors, 55 (2021), S14–S21
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{YadCha21}
\by N.~Yadava, R.~K.~Chauhan
\paper RF performance investigation of NiO pocket on Ga$_2$O$_3$-based hetero-MOSFET
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2021
\vol 55
\issue 5
\pages 473
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts6607}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2021
\vol 55
\pages S14--S21
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782621050171}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts6607
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v55/i5/p473
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:41
    PDF полного текста:13
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024