|
Физика и техника полупроводников, 2016, том 50, выпуск 5, страницы 607–611
(Mi phts6459)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)
Поверхность, границы раздела, тонкие пленки
Атомные ступени на ультраплоской поверхности Si(111) при сублимации
С. В. Ситниковa, А. В. Латышевba, С. С. Косолобовa a Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, г. Новосибирск
b Новосибирский государственный университет
Аннотация:
Методом сверхвысоковакуумной отражательной электронной микроскопии in situ проведены исследования кинетики атомных ступеней на ультраплоской поверхности кремния (111) при температурах 1050–1350$^\circ$C. Впервые экспериментально показано, что скорость смещения атомной ступени при сублимации нелинейным образом зависит от ширины прилегающей к ступени террасы. Установлено, что атомный механизм процессов массопереноса на поверхности кремния при температурах выше 1200$^\circ$C определяется зарождением и диффузией поверхностных вакансий, а не адсорбированных атомов кремния. Проведенные исследования позволили оценить энергию активации процесса растворения вакансии с поверхности в объем кремния, которая составила (4.3 $\pm$ 0.05) эВ.
Поступила в редакцию: 10.11.2015 Принята в печать: 16.11.2015
Образец цитирования:
С. В. Ситников, А. В. Латышев, С. С. Косолобов, “Атомные ступени на ультраплоской поверхности Si(111) при сублимации”, Физика и техника полупроводников, 50:5 (2016), 607–611; Semiconductors, 50:5 (2016), 596–600
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts6459 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v50/i5/p607
|
|