Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2016, том 50, выпуск 6, страницы 757–766 (Mi phts6435)  

Эта публикация цитируется в 6 научных статьях (всего в 6 статьях)

Электронные свойства полупроводников

Примесь олова в термоэлектрике ZnSb: генерация и компенсация носителей заряда

Л. В. Прокофьева, П. П. Константинов, А. А. Шабалдин

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
Аннотация: Метод измерения коэффициентов Холла и электропроводности в режиме термоциклов использован для исследования влияния примеси Sn на микроструктуру и свойства прессованных образцов ZnSb. Олово вводилось как избыточный компонент (0.1 и 0.2 ат%) и как примесь замещения атомов Zn и Sb в концентрации (2–2.5 ат%). Температурные зависимости параметров слабо легированных образцов обнаруживают принципиальное сходство с аналогичными кривыми для ZnSb с 0.1 ат% Cu. Наибольшая холловская концентрация 1.4 $\cdot$ 10$^{19}$ cm$^{-3}$ при 300 K получена при введении 0.1 ат% Sn, безразмерная термоэлектрическая эффективность имеет максимальное значение 0.85 при 660 K. Экспериментальные результаты обсуждаются в предположении двух механизмов легирования, эффективных в разных диапазонах температур, с определяющей ролью вакансий цинка как акцепторных центров.
В двух образцах ZnSb с добавками SbSb и ZnSn обнаружен эффект компенсации носителей заряда. Его проявление зависит от температуры и сильно различается вследствие разного легирования образцов. Как и в $p$-материалах A$^{\mathrm{IV}}$B$^{\mathrm{VI}}$ с малым содержанием Sb, компенсация дырок может быть связана с перезарядкой атомов Sn$^{2+}$ $\to$ Sn$^{4+}$, рассматриваются виды компенсирующих комплексов.
Поступила в редакцию: 26.11.2015
Принята в печать: 03.12.2015
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2016, Volume 50, Issue 6, Pages 741–750
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782616060208
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Л. В. Прокофьева, П. П. Константинов, А. А. Шабалдин, “Примесь олова в термоэлектрике ZnSb: генерация и компенсация носителей заряда”, Физика и техника полупроводников, 50:6 (2016), 757–766; Semiconductors, 50:6 (2016), 741–750
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{ProKonSha16}
\by Л.~В.~Прокофьева, П.~П.~Константинов, А.~А.~Шабалдин
\paper Примесь олова в термоэлектрике ZnSb: генерация и компенсация носителей заряда
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2016
\vol 50
\issue 6
\pages 757--766
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts6435}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=27368908}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2016
\vol 50
\issue 6
\pages 741--750
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782616060208}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts6435
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v50/i6/p757
  • Эта публикация цитируется в следующих 6 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:25
    PDF полного текста:8
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024