Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2016, том 50, выпуск 8, страницы 1009–1015 (Mi phts6377)  

Эта публикация цитируется в 6 научных статьях (всего в 6 статьях)

Неэлектронные свойства полупроводников (атомная структура, диффузия)

Влияние повышения плотности каскадов столкновений на эффективность генерации первичных смещений при ионной бомбардировке Si

К. В. Карабешкин, П. А. Карасев, А. И. Титов

Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
Аннотация: Распределения по глубине структурных нарушений, создаваемых в процессе имплантации в кремний ионов P и PF$_{4}$ с энергиями от 0.6 до 3.2 кэВ/а.е.м., экспериментально получены в широком диапазоне доз при комнатной температуре. Установлено, что внедрение молекулярных ионов PF$_{4}$ во всех случаях приводит к формированию практически одномодальных профилей распределения дефектов, максимум которых примыкает к поверхности. Это явление связано с усилением эффективности генерации первичных смещений у поверхности мишени. В начальной части пробега молекулярных ионов имеет место перекрытие субкаскадов, генерируемых атомами – компонентами молекул, приводящее к нелинейным процессам в объединенных каскадах из-за высокой плотности в них атомных смещений. На основании анализа экспериментальных данных проведена количественная оценка усиления эффективности генерации первичных дефектов на каскадной стадии их формирования ионами PF$_{4}$ по сравнению с ионами P.
Поступила в редакцию: 27.01.2016
Принята в печать: 02.02.2016
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2016, Volume 50, Issue 8, Pages 989–995
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782616080145
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: К. В. Карабешкин, П. А. Карасев, А. И. Титов, “Влияние повышения плотности каскадов столкновений на эффективность генерации первичных смещений при ионной бомбардировке Si”, Физика и техника полупроводников, 50:8 (2016), 1009–1015; Semiconductors, 50:8 (2016), 989–995
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{KarKarTit16}
\by К.~В.~Карабешкин, П.~А.~Карасев, А.~И.~Титов
\paper Влияние повышения плотности каскадов столкновений на эффективность генерации первичных смещений при ионной бомбардировке Si
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2016
\vol 50
\issue 8
\pages 1009--1015
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts6377}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=27368952}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2016
\vol 50
\issue 8
\pages 989--995
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782616080145}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts6377
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v50/i8/p1009
  • Эта публикация цитируется в следующих 6 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:51
    PDF полного текста:19
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024