|
Физика и техника полупроводников, 2016, том 50, выпуск 8, страницы 1009–1015
(Mi phts6377)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 6 научных статьях (всего в 6 статьях)
Неэлектронные свойства полупроводников (атомная структура, диффузия)
Влияние повышения плотности каскадов столкновений на эффективность генерации первичных смещений при ионной бомбардировке Si
К. В. Карабешкин, П. А. Карасев, А. И. Титов Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
Аннотация:
Распределения по глубине структурных нарушений, создаваемых в процессе имплантации в кремний ионов P и PF$_{4}$ с энергиями от 0.6 до 3.2 кэВ/а.е.м., экспериментально получены в широком диапазоне доз при комнатной температуре. Установлено, что внедрение молекулярных ионов PF$_{4}$ во всех случаях приводит к формированию практически одномодальных профилей распределения дефектов, максимум которых примыкает к поверхности. Это явление связано с усилением эффективности генерации первичных смещений у поверхности мишени. В начальной части пробега молекулярных ионов имеет место перекрытие субкаскадов, генерируемых атомами – компонентами молекул, приводящее к нелинейным процессам в объединенных каскадах из-за высокой плотности в них атомных смещений. На основании анализа экспериментальных данных проведена количественная оценка усиления эффективности генерации первичных дефектов на каскадной стадии их формирования ионами PF$_{4}$ по сравнению с ионами P.
Поступила в редакцию: 27.01.2016 Принята в печать: 02.02.2016
Образец цитирования:
К. В. Карабешкин, П. А. Карасев, А. И. Титов, “Влияние повышения плотности каскадов столкновений на эффективность генерации первичных смещений при ионной бомбардировке Si”, Физика и техника полупроводников, 50:8 (2016), 1009–1015; Semiconductors, 50:8 (2016), 989–995
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts6377 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v50/i8/p1009
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 51 | PDF полного текста: | 19 |
|