|
Физика и техника полупроводников, 2016, том 50, выпуск 10, страницы 1420–1424
(Mi phts6349)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)
Физика полупроводниковых приборов
Повышение спектральной чувствительности фотодиодов для средней инфракрасной области спектра
Е. В. Куницына, Е. А. Гребенщикова, Г. Г. Коновалов, И. А. Андреев, Ю. П. Яковлев Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
Аннотация:
Применен новый метод повышения спектральной чувствительности фотодиодов на основе гетероструктур GaSb/GaInAsSb/GaAlAsSb для спектрального диапазона 1.1–2.4 мкм. Показано, что формирование рельефа в виде углублений на тыльной неосвещаемой поверхности фотодиодного чипа, свободной от металлизации, позволяет увеличить спектральную чувствительность фотодиодов в интервале длин волн 1.8–2.4 мкм. Наибольшее увеличение, до 53% в максимуме, по сравнению с чувствительностью традиционных фотодиодов со сплошной металлизированной тыльной поверхностью чипа наблюдается для фотодиодов, чипы которых имеют мелкие углубления радиусом 30 мкм. Данные приборы могут найти широкое применение в системах для измерения количества воды в нефтепродуктах, влажности бумаги, почвы и зерна.
Поступила в редакцию: 18.04.2016 Принята в печать: 28.04.2016
Образец цитирования:
Е. В. Куницына, Е. А. Гребенщикова, Г. Г. Коновалов, И. А. Андреев, Ю. П. Яковлев, “Повышение спектральной чувствительности фотодиодов для средней инфракрасной области спектра”, Физика и техника полупроводников, 50:10 (2016), 1420–1424; Semiconductors, 50:10 (2016), 1403–1407
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts6349 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v50/i10/p1420
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 40 | PDF полного текста: | 26 |
|