|
Физика и техника полупроводников, 2016, том 50, выпуск 12, страницы 1595–1598
(Mi phts6276)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)
XX Международный симпозиум ''Нанофизика и наноэлектроника'', Нижний Новгород, 14-18 марта 2016 г.
Атомный состав и электрофизические характеристики эпитаксиальных слоев CVD алмаза, легированных бором
Е. А. Суровегинаa, Е. В. Демидовa, М. Н. Дроздовa, А. В. Мурельa, О. И. Хрыкинa, В. И. Шашкинa, М. А. Лобаевb, А. М. Горбачевb, А. Л. Вихаревb, С. А. Богдановb, В. А. Исаевb, А. Б. Мучниковb, В. В. Черновb, Д. Б. Радищевb, Д. Е. Батлерb a Институт физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород
b Институт прикладной физики РАН, г. Нижний Новгород
Аннотация:
Приведены результаты анализа атомного состава, уровня легирования и подвижности дырок в эпитаксиальных слоях CVD (chemical vapor deposition) алмаза при легировании бором. Показаны возможности однородного легирования бором в диапазоне от 5 $\cdot$ 10$^{17}$ до $\sim$10$^{20}$ ат/см$^{3}$ и $\delta$-легирования с поверхностной концентрацией (0.3–5) $\cdot$ 10$^{13}$ ат/см$^{2}$. Определены режимы прецизионного ионного травления структур, сформированы барьерные и омические контакты к слоям.
Поступила в редакцию: 27.04.2016 Принята в печать: 10.05.2016
Образец цитирования:
Е. А. Суровегина, Е. В. Демидов, М. Н. Дроздов, А. В. Мурель, О. И. Хрыкин, В. И. Шашкин, М. А. Лобаев, А. М. Горбачев, А. Л. Вихарев, С. А. Богданов, В. А. Исаев, А. Б. Мучников, В. В. Чернов, Д. Б. Радищев, Д. Е. Батлер, “Атомный состав и электрофизические характеристики эпитаксиальных слоев CVD алмаза, легированных бором”, Физика и техника полупроводников, 50:12 (2016), 1595–1598; Semiconductors, 50:12 (2016), 1569–1573
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts6276 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v50/i12/p1595
|
|