|
Физика полупроводниковых приборов
Анализ влияния неодномерных эффектов на отпирающий ток управления тиристорных структур на основе 4$H$-SiC
С. Н. Юрковa, Т. Т. Мнацакановa, М. Е. Левинштейнb, А. Г. Тандоевa, J. W. Palmourc a Всероссийский электротехнический институт им. В. И. Ленина
b Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
c Wolfspeed, USA
Аннотация:
Рассмотрено влияние неодномерных эффектов, обусловленных растеканием тока управления в базовом слое, на величину отпирающего тока управления тиристоров на основе 4$H$-SiC. Показано, что реализующийся в 4$H$-SiC тиристорах новый механизм переключения приводит к зависимости отпирающего тока управления от параметров тиристора, качественно отличающейся от соответствующей зависимости в традиционных кремниевых тиристорах.
Поступила в редакцию: 24.05.2016 Принята в печать: 14.06.2016
Образец цитирования:
С. Н. Юрков, Т. Т. Мнацаканов, М. Е. Левинштейн, А. Г. Тандоев, J. W. Palmour, “Анализ влияния неодномерных эффектов на отпирающий ток управления тиристорных структур на основе 4$H$-SiC”, Физика и техника полупроводников, 51:2 (2017), 234–239; Semiconductors, 51:2 (2017), 225–231
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts6239 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v51/i2/p234
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 37 | PDF полного текста: | 11 |
|