Особенности вольт-фарадных характеристик МДП-структуры Cu–SiO$_{2}$–$p$-InSb

Измерены вольт-фарадные характеристики и проводимость МДП-структур на основе InSb при разных частотах измерительного сигнала с целью изучения влияния условий технологического синтеза на емкостные свойства данных структур. Обсуждается влияние положительного, встроенного в диэлектрик, заряда на измеренные характеристики образца, которое проявляется в виде резкого “переключения” емкости при смене полярности слабополевого внешнего воздействия ($E<$ 10$^{6}$ В/см).