Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2017, том 51, выпуск 4, страницы 481–496
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2017.04.44340.8393
(Mi phts6182)
 

Эта публикация цитируется в 16 научных статьях (всего в 16 статьях)

Микро- и нанокристаллические, пористые, композитные полупроводники

Анодные процессы в условиях химического и электрохимического травления кристаллов кремния в кислых фторидных растворах. Механизм порообразования

В. П. Улин, Н. В. Улин, Ф. Ю. Солдатенков

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
Аннотация: В работе изучено взаимодействие с плавиковой кислотой сильно легированных кристаллов кремния $p$- и $n$-типа проводимости, протекающее без освещения, в отсутствие и при наличии их контакта с металлами, существенно различающимися величиной работы выхода электронов (Ag и Pd). Определены зависимости от типа и уровня легирования кристаллов скорости растворения кремния в плавиковой кислоте, содержащей окислители c различными значениями редокс-потенциалов (FeCl$_{3}$, V$_{2}$O$_{5}$, CrO$_{3}$). Анализ экспериментальных данных позволяет сделать вывод о том, что дырки валентной зоны не являются непосредственными участниками анодных реакций окисления и растворения кремния, а их генерация в кристалле не лимитирует скорость этих процессов. Показано также, что тип химического процесса, приводящего к растворению кремния в HF-содержащих электролитах, и скорости его протекания определяются величиной скачка потенциала, устанавливающегося на межфазной границе полупроводник-электролит. Предложена модель механизма электрохимического порообразования в кристаллах кремния, основанная на представлении о самосогласованных кооперативных реакциях нуклеофильного замещения между хемосорбированными анионами фтора и координационно-насыщенными атомами в приповерхностном слое кристалла. В случае кремния специфической особенностью этих реакций является участие в образовании переходных комплексов вакантных несвязывающих $d^{2}sp^{3}$-орбиталей атомов Si, ассоциируемых с шестикратно вырожденными состояниями, соответствующими $\Delta$-долине зоны проводимости. Согласно предложенной модели, процесс порообразования спонтанно развивается в локальных областях межфазной границы под действием скачка потенциала в адсорбционном слое и осуществляется в результате отделения от кристалла полимерных группировок в виде цепочек (SiF$_{2}$)$_{n}$, что и определяет преимущественное распространение пор вдоль кристаллографических направлений $\langle$100$\rangle$. Рассмотрены термодинамические аспекты зародышеобразования пор и влияние на размер и структуру пор величины падения потенциала на межфазной границе, типа проводимости и концентрации свободных носителей заряда в кристалле. Развитые в работе представления позволяют предложить непротиворечивое объяснение экспериментальным фактам, характеризующим процессы травления кремния с различными электрофизическими параметрами в различных условиях, обеспечивающих анодную поляризацию кристаллов в HF-содержащих растворах.
Поступила в редакцию: 06.09.2016
Принята в печать: 26.09.2016
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2017, Volume 51, Issue 4, Pages 458–472
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782617040212
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: В. П. Улин, Н. В. Улин, Ф. Ю. Солдатенков, “Анодные процессы в условиях химического и электрохимического травления кристаллов кремния в кислых фторидных растворах. Механизм порообразования”, Физика и техника полупроводников, 51:4 (2017), 481–496; Semiconductors, 51:4 (2017), 458–472
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{UliUliSol17}
\by В.~П.~Улин, Н.~В.~Улин, Ф.~Ю.~Солдатенков
\paper Анодные процессы в условиях химического и электрохимического травления кристаллов кремния в кислых фторидных растворах. Механизм порообразования
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2017
\vol 51
\issue 4
\pages 481--496
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts6182}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2017.04.44340.8393}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=29404889}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2017
\vol 51
\issue 4
\pages 458--472
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782617040212}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts6182
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v51/i4/p481
  • Эта публикация цитируется в следующих 16 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:40
    PDF полного текста:23
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024