|
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)
Поверхность, границы раздела, тонкие пленки
Обратимая электрохимическая модификация поверхности полупроводников зондом атомно-силового микроскопа
А. С. Кожуховab, Д. В. Щегловa, А. В. Латышевa a Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, г. Новосибирск
b Новосибирский государственный университет
Аннотация:
Предложена и обоснована методика обратимого изменения свойств поверхности зондом атомно-силового микроскопа, когда при локальном изменении поверхностного потенциала образца под зондом атомно-силового микроскопа не происходит заметных механических или топографических изменений. На основе предложенной методики установлена возможность контролируемого относительного изменения омического сопротивления канала в мосте Холла в пределах 20–25%.
Поступила в редакцию: 27.10.2015 Принята в печать: 26.09.2016
Образец цитирования:
А. С. Кожухов, Д. В. Щеглов, А. В. Латышев, “Обратимая электрохимическая модификация поверхности полупроводников зондом атомно-силового микроскопа”, Физика и техника полупроводников, 51:4 (2017), 443–445; Semiconductors, 51:4 (2017), 420–422
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts6175 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v51/i4/p443
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 36 | PDF полного текста: | 12 |
|