|
Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)
XV Международная конференция ''Термоэлектрики и их применения-2016'', Санкт-Петербург, 15-16 ноября 2016 г.
Зависимость морфологии поверхности ультратонких пленок висмута на слюдяной подложке от толщины пленки
А. Н. Крушельницкий, Е. В. Демидов, Е. К. Иванова, Н. С. Каблукова, В. А. Комаров Российский государственный педагогический университет им. А. И. Герцена, г. Санкт-Петербург
Аннотация:
Представлены результаты исследования поверхности пленок висмута толщинами 15–100 нм на слюдяной подложке методом атомно-силовой микроскопии. Установлен близкий к линейному характер зависимостей средней шероховатости поверхности и средней высоты фигуры роста от толщины пленки. Обнаружено увеличение среднего размера кристаллитов с увеличением толщины пленки, и выявлена слабая зависимость размера кристаллита от толщины при толщинах 27–70 нм.
Поступила в редакцию: 27.12.2016 Принята в печать: 12.01.2017
Образец цитирования:
А. Н. Крушельницкий, Е. В. Демидов, Е. К. Иванова, Н. С. Каблукова, В. А. Комаров, “Зависимость морфологии поверхности ультратонких пленок висмута на слюдяной подложке от толщины пленки”, Физика и техника полупроводников, 51:7 (2017), 914–916; Semiconductors, 51:7 (2017), 876–878
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts6098 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v51/i7/p914
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 24 | PDF полного текста: | 6 |
|