Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2017, том 51, выпуск 7, страницы 900–903
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2017.07.44637.23
(Mi phts6094)
 

Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)

XV Международная конференция ''Термоэлектрики и их применения-2016'', Санкт-Петербург, 15-16 ноября 2016 г.

Термоэдс тонких пленок Bi$_{92}$Sb$_{8}$ и Bi$_{85}$Sb$_{15}$

М. В. Суслов, В. А. Комаров, А. В. Суслов

Российский государственный педагогический университет им. А. И. Герцена, г. Санкт-Петербург
Аннотация: Представлены результаты исследования гальваномагнитных и термоэлектрических свойств тонких блочных пленок Bi$_{92}$Sb$_{8}$ и Bi$_{85}$Sb$_{15}$ на подложках из слюды и полиимида. Использованный метод измерения термоэдс позволил исследовать температурную зависимость термоэдс, не внося дополнительных деформаций в систему подложка-пленка. Обнаружено существенное различие температурных зависимостей гальваномагнитных свойств и термоэдс пленок на слюде и полиимиде. В рамках двухзонного приближения рассчитаны концентрации и подвижности свободных носителей заряда в пленках на слюде и полиимиде, а также уровни химического потенциала для электронов и дырок. Различие параметров носителей заряда в пленках на слюде и полиимиде связывается с деформациями в системе пленка-подложка.
Поступила в редакцию: 27.12.2016
Принята в печать: 12.01.2017
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2017, Volume 51, Issue 7, Pages 862–865
DOI: https://doi.org/10.1134/S106378261707034X
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: М. В. Суслов, В. А. Комаров, А. В. Суслов, “Термоэдс тонких пленок Bi$_{92}$Sb$_{8}$ и Bi$_{85}$Sb$_{15}$”, Физика и техника полупроводников, 51:7 (2017), 900–903; Semiconductors, 51:7 (2017), 862–865
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{SusKomSus17}
\by М.~В.~Суслов, В.~А.~Комаров, А.~В.~Суслов
\paper Термоэдс тонких пленок Bi$_{92}$Sb$_{8}$ и Bi$_{85}$Sb$_{15}$
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2017
\vol 51
\issue 7
\pages 900--903
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts6094}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2017.07.44637.23}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=29772352}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2017
\vol 51
\issue 7
\pages 862--865
\crossref{https://doi.org/10.1134/S106378261707034X}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts6094
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v51/i7/p900
  • Эта публикация цитируется в следующих 4 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:26
    PDF полного текста:8
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024