|
Эта публикация цитируется в 8 научных статьях (всего в 8 статьях)
Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур
Квантовые точки InSb, полученные методом жидкофазной эпитаксии на подложке InGaAsSb/GaSb
Л. А. Cокура, Я. А. Пархоменко, К. Д. Моисеев, В. Н. Неведомский, Н. А. Берт Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
Аннотация:
Методом жидкофазной эпитаксии на поверхности эпитаксиального слоя In$_{0.25}$GaAsSb, изопериодного с подложкой GaSb(001), впервые сформированы квантовые точки InSb в интервале температур $T$ = 450–467$^\circ$C. Просвечивающая электронная микроскопия показала, что форма квантовой точки близка к усеченному конусу, а распределение их в ансамбле по высоте и размеру основания является монодисперсным. Крупные квантовые точки (размер основания $\sim$30–50 нм, высота 3 нм) имели специфический контраст на изображении в планарной геометрии с дифракционным контрастом, что указывало на присутствие дефектов несоответствия. Модификация химического состава рабочей поверхности подложки за счет нанесения эпитаксиального слоя In$_{0.25}$GaAsSb позволила в 3 раза увеличить плотность ансамбля (1 $\cdot$ 10$^{10}$ см$^{-2}$) квантовых точек InSb по сравнению с осаждением непосредственно на бинарное соединение GaSb.
Поступила в редакцию: 31.01.2017 Принята в печать: 15.02.2017
Образец цитирования:
Л. А. Cокура, Я. А. Пархоменко, К. Д. Моисеев, В. Н. Неведомский, Н. А. Берт, “Квантовые точки InSb, полученные методом жидкофазной эпитаксии на подложке InGaAsSb/GaSb”, Физика и техника полупроводников, 51:8 (2017), 1146–1150; Semiconductors, 51:8 (2017), 1101–1105
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts6084 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v51/i8/p1146
|
|