Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2017, том 51, выпуск 8, страницы 1146–1150
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2017.08.44804.8533
(Mi phts6084)
 

Эта публикация цитируется в 8 научных статьях (всего в 8 статьях)

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Квантовые точки InSb, полученные методом жидкофазной эпитаксии на подложке InGaAsSb/GaSb

Л. А. Cокура, Я. А. Пархоменко, К. Д. Моисеев, В. Н. Неведомский, Н. А. Берт

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
Аннотация: Методом жидкофазной эпитаксии на поверхности эпитаксиального слоя In$_{0.25}$GaAsSb, изопериодного с подложкой GaSb(001), впервые сформированы квантовые точки InSb в интервале температур $T$ = 450–467$^\circ$C. Просвечивающая электронная микроскопия показала, что форма квантовой точки близка к усеченному конусу, а распределение их в ансамбле по высоте и размеру основания является монодисперсным. Крупные квантовые точки (размер основания $\sim$30–50 нм, высота 3 нм) имели специфический контраст на изображении в планарной геометрии с дифракционным контрастом, что указывало на присутствие дефектов несоответствия. Модификация химического состава рабочей поверхности подложки за счет нанесения эпитаксиального слоя In$_{0.25}$GaAsSb позволила в 3 раза увеличить плотность ансамбля (1 $\cdot$ 10$^{10}$ см$^{-2}$) квантовых точек InSb по сравнению с осаждением непосредственно на бинарное соединение GaSb.
Поступила в редакцию: 31.01.2017
Принята в печать: 15.02.2017
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2017, Volume 51, Issue 8, Pages 1101–1105
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782617080310
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Л. А. Cокура, Я. А. Пархоменко, К. Д. Моисеев, В. Н. Неведомский, Н. А. Берт, “Квантовые точки InSb, полученные методом жидкофазной эпитаксии на подложке InGaAsSb/GaSb”, Физика и техника полупроводников, 51:8 (2017), 1146–1150; Semiconductors, 51:8 (2017), 1101–1105
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{SokParMoi17}
\by Л.~А.~Cокура, Я.~А.~Пархоменко, К.~Д.~Моисеев, В.~Н.~Неведомский, Н.~А.~Берт
\paper Квантовые точки InSb, полученные методом жидкофазной эпитаксии на подложке InGaAsSb/GaSb
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2017
\vol 51
\issue 8
\pages 1146--1150
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts6084}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2017.08.44804.8533}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=29938297}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2017
\vol 51
\issue 8
\pages 1101--1105
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782617080310}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts6084
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v51/i8/p1146
  • Эта публикация цитируется в следующих 8 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024