|
Электронные свойства полупроводников
Примесные уровни в кристаллах Hg$_{3}$In$_{2}$Te$_{6}$
С. М. Чупыра, О. Г. Грушка, С. В. Биличук Черновицкий национальный университет им. Ю. Федьковича
Аннотация:
Исследованы параметры примесных уровней в образцах Hg$_{3}$In$_{2}$Te$_{6}$, при использовании температурных зависимостей концентрации электронов $n(T)$ и энергии Ферми $E_{F}(T)$, полученных по данным коэффициента Холла $R(T)$ и термоэдс $\alpha(T)$. Приведенный дифференциальный анализ зависимостей $n(T)$ показал, что изменяя степень компенсации с помощью термообработки образцов, можно зафиксировать более широкий спектр примесных уровней в запрещенной зоне Hg$_{3}$In$_{2}$Te$_{6}$.
Поступила в редакцию: 06.12.2016 Принята в печать: 01.02.2017
Образец цитирования:
С. М. Чупыра, О. Г. Грушка, С. В. Биличук, “Примесные уровни в кристаллах Hg$_{3}$In$_{2}$Te$_{6}$”, Физика и техника полупроводников, 51:8 (2017), 1085–1087; Semiconductors, 51:8 (2017), 1041–1043
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts6074 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v51/i8/p1085
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 23 | PDF полного текста: | 6 |
|