Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Физика и техника полупроводников, 2017, том 51, выпуск 8, страницы 1021–1022
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2017.08.44777.46 (Mi phts6057) 		 
XV Международная конференция ''Термоэлектрики и их применения-2016'', Санкт-Петербург, 15-16 ноября 2016 г.

Определение термоэлектрической эффективности материала по измерениям линейного ряда ветвей $n$- и $p$-типов проводимости

Ю. П. Лебедев, А. С. Иванов, А. С. Ильин, А. Г. Чуйко

АО "РИФ", Воронеж
PDF полного текста (93 kB)
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2017.08.44777.46
Аннотация: На основе подхода Хармана разработана методика и приведены формулы для одновременного определения термоэлектрической эффективности материалов $n$- и $p$-типов проводимости. Данные для расчета получены путем измерения падения напряжения при последовательном пропускании постоянного и переменного тока через линейные ряды, состоящие из нечетного числа ветвей обоих типов проводимости.
Поступила в редакцию: 31.01.2017
Принята в печать: 15.02.2017
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2017, Volume 51, Issue 8, Pages 979–980
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782617080206
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Ю. П. Лебедев, А. С. Иванов, А. С. Ильин, А. Г. Чуйко, “Определение термоэлектрической эффективности материала по измерениям линейного ряда ветвей $n$- и $p$-типов проводимости”, Физика и техника полупроводников, 51:8 (2017), 1021–1022; Semiconductors, 51:8 (2017), 979–980
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{LebIvaIly17}
\by Ю.~П.~Лебедев, А.~С.~Иванов, А.~С.~Ильин, А.~Г.~Чуйко
\paper Определение термоэлектрической эффективности материала по измерениям линейного ряда ветвей $n$- и $p$-типов проводимости
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2017
\vol 51
\issue 8
\pages 1021--1022
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts6057}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2017.08.44777.46}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=29938270}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2017
\vol 51
\issue 8
\pages 979--980
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782617080206}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts6057
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v51/i8/p1021
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024