Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2017, том 51, выпуск 9, страницы 1229–1234
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2017.09.44887.8018
(Mi phts6043)
 

Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

Физика полупроводниковых приборов

Деградация кремниевых тонкопленочных микроморфных ($\alpha$-Si/$\mu c$-Si) солнечных модулей: оценка сезонной эффективности на основе данных мониторинга

Д. А. Богдановabc, Г. А. Горбатовскийb, В. Н. Вербицкийb, А. В. Бобыльb, Е. И. Теруковbd

a Lappeenranta University of Technology, Lappeenranta, Finland
b Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
c Санкт-Петербургский национальный исследовательский академический университет Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
d НТЦ тонкопленочных технологий в энергетике, г. С.-Петербург
Аннотация: Разработан метод оценки эффективности работы $\alpha$-Si/$\mu c$-Si солнечных модулей на основе анализа данных мониторинга значения тока и напряжения в точке максимальной мощности и данных измерения температуры поверхности модуля. Приведена методика оценки параметров работы $\alpha$-Si/$\mu c$-Si модулей в ходе эксплуатации после начальной деградации модуля, и произведено сравнение результатов оценки параметров со значениями, измеренными в лаборатории. Ошибка оценки параметров не превысила 3%, для максимальной мощности модуля в стандартных условиях ошибка оценки составила 0.36%. Данная методика может применяться для оценки эффективности модуля и краткосрочного прогнозирования (день, неделя) мощности генерируемой солнечной энергоустановкой в условиях эксплуатации с использованием стандартных средств мониторинга.
Поступила в редакцию: 15.12.2016
Принята в печать: 09.02.2017
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2017, Volume 51, Issue 9, Pages 1180–1185
DOI: https://doi.org/10.1134/S106378261709007X
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Д. А. Богданов, Г. А. Горбатовский, В. Н. Вербицкий, А. В. Бобыль, Е. И. Теруков, “Деградация кремниевых тонкопленочных микроморфных ($\alpha$-Si/$\mu c$-Si) солнечных модулей: оценка сезонной эффективности на основе данных мониторинга”, Физика и техника полупроводников, 51:9 (2017), 1229–1234; Semiconductors, 51:9 (2017), 1180–1185
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{BogGorVer17}
\by Д.~А.~Богданов, Г.~А.~Горбатовский, В.~Н.~Вербицкий, А.~В.~Бобыль, Е.~И.~Теруков
\paper Деградация кремниевых тонкопленочных микроморфных ($\alpha$-Si/$\mu c$-Si) солнечных модулей: оценка сезонной эффективности на основе данных мониторинга
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2017
\vol 51
\issue 9
\pages 1229--1234
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts6043}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2017.09.44887.8018}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=29973060}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2017
\vol 51
\issue 9
\pages 1180--1185
\crossref{https://doi.org/10.1134/S106378261709007X}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts6043
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v51/i9/p1229
  • Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:23
    PDF полного текста:5
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024