|
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)
Физика полупроводниковых приборов
Составление аналитического выражения физического процесса по экспериментальной кривой с изломами
В. Н. Давыдов, С. В. Харитонов, Н. Э. Лугина, К. П. Мельник Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники
Аннотация:
Предложена методика составления аналитического выражения экспериментальной кривой, имеющей один или несколько изломов. В зависимости от схемы участия парциальных процессов в результирующем процессе при составлении используются вычисления суммы процессов или их среднего геометрического значения. Для повышения точности аппроксимации в данные выражения введены “функции участия” процессов, ход которых определяется координатой точки пересечения процессов и “параметром точности”. Их подбором точность аппроксимации устанавливается соответствующей точности измерения экспериментальной кривой. Показано применение предлагаемой методики в аналитических расчетах с комбинацией нескольких процессов, а также при составлении аналитического выражения экспериментальной кривой с изломами. Получаемое таким способом аппроксимирующее выражение характеризуется наглядностью, высокой точностью аппроксимации, физической простотой и может быть использовано для вычисления других свойств полупроводникового прибора.
Поступила в редакцию: 16.01.2017 Принята в печать: 07.02.2017
Образец цитирования:
В. Н. Давыдов, С. В. Харитонов, Н. Э. Лугина, К. П. Мельник, “Составление аналитического выражения физического процесса по экспериментальной кривой с изломами”, Физика и техника полупроводников, 51:9 (2017), 1223–1228; Semiconductors, 51:9 (2017), 1174–1179
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts6042 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v51/i9/p1223
|
|