Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2017, том 51, выпуск 10, страницы 1400–1403
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2017.10.45020.8381
(Mi phts6025)
 

Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

Микро- и нанокристаллические, пористые, композитные полупроводники

Исследования методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии наноструктур ZnS$_{x}$Se$_{1-x}$, полученных в матрице пористого оксида алюминия,

А. И. Чукавин, Р. Г. Валеев, А. Н. Бельтюков

Физико-технический институт Уральского отделения Российской Академии наук, Ижевск, Россия
Аннотация: Наноструктуры полупроводниковых соединений ZnS$_{x}$Se$_{1-x}$ ($x$ = 0, 0.1, 0.3, 0.5, 0.7, 1) были синтезированы с использованием темплатного метода, основанного на формировании наночастиц полупроводника в шаблонах пористого анодного оксида алюминия при помощи метода вакуумного термического испарения смеси порошков ZnS и ZnSe. Представлены результаты исследований элементного состава полученных наноструктур в зависимости от состава исходной смеси и параметров матрицы-подложки методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Показано, что состав наноструктур близок к составу исходных порошков и может быть задан соотношением ZnS/ZnSe в исходной смеси.
Поступила в редакцию: 12.12.2016
Принята в печать: 29.03.2017
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2017, Volume 51, Issue 10, Pages 1350–1353
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782617100074
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: А. И. Чукавин, Р. Г. Валеев, А. Н. Бельтюков, “Исследования методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии наноструктур ZnS$_{x}$Se$_{1-x}$, полученных в матрице пористого оксида алюминия,”, Физика и техника полупроводников, 51:10 (2017), 1400–1403; Semiconductors, 51:10 (2017), 1350–1353
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{ChuValBel17}
\by А.~И.~Чукавин, Р.~Г.~Валеев, А.~Н.~Бельтюков
\paper Исследования методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии наноструктур ZnS$_{x}$Se$_{1-x}$, полученных в матрице пористого оксида алюминия,
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2017
\vol 51
\issue 10
\pages 1400--1403
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts6025}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2017.10.45020.8381}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=30291331}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2017
\vol 51
\issue 10
\pages 1350--1353
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782617100074}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts6025
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v51/i10/p1400
  • Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:39
    PDF полного текста:21
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024