Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2018, том 52, выпуск 2, страницы 280–284
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2018.02.45457.8595
(Mi phts5930)
 

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Ионный синтез кристаллической фазы Ge в пленках SiO$_{x}$N$_{y}$ при отжиге под высоким давлением

И. Е. Тысченкоa, Г. К. Кривякинa, В. А. Володинab

a Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, г. Новосибирск
b Новосибирский государственный университет
Аннотация: Изучено зарождение фазы кристаллического германия в пленках SiO$_{x}$N$_{y}$, имплантированных ионами Ge$^{+}$ с энергией 55 кэВ дозами 2.1 $\cdot$ 10$^{15}$-1.7 $\cdot$ 10$^{16}$ см$^{-2}$, после отжига при температуре $T_{a}$ = 800–1300$^\circ$C при давлениях 1 бар и 1–12 кбар. Из анализа полосы комбинационного рассеяния света сделано заключение об увеличении размеров преципитатов аморфного германия под действием гидростатического сжатия при температуре 1000$^\circ$C. Рассеяние на оптических фононах, локализованных в нанокристаллах германия, наблюдалось лишь после отжига образцов с максимальным содержанием имплантированных атомов при температуре 1300$^\circ$C. В спектрах фотолюминесценции наблюдался пик при $\sim$730 нм, природа которого связывается с проявлением квантово-размерного эффекта в нанокристаллах размером $\sim$3 нм.
Поступила в редакцию: 20.03.2017
Принята в печать: 17.04.2017
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2018, Volume 52, Issue 2, Pages 268–272
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782618020215
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: И. Е. Тысченко, Г. К. Кривякин, В. А. Володин, “Ионный синтез кристаллической фазы Ge в пленках SiO$_{x}$N$_{y}$ при отжиге под высоким давлением”, Физика и техника полупроводников, 52:2 (2018), 280–284; Semiconductors, 52:2 (2018), 268–272
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{TysKriVol18}
\by И.~Е.~Тысченко, Г.~К.~Кривякин, В.~А.~Володин
\paper Ионный синтез кристаллической фазы Ge в пленках SiO$_{x}$N$_{y}$ при отжиге под высоким давлением
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2018
\vol 52
\issue 2
\pages 280--284
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts5930}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2018.02.45457.8595}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=32739675}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2018
\vol 52
\issue 2
\pages 268--272
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782618020215}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts5930
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v52/i2/p280
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:21
    PDF полного текста:8
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024