Исследование длинноволновых инфракрасных спектров отражения моно- и поликристаллов SmS в области гомогенности

Зарегистрированы и проанализированы спектры отражения в дальней и средней инфракрасных областях образцов Sm$_{1+x}$S ($x$ = 0–0.17), а также их электрические и структурные параметры при температуре $T$ = 300 K. Показано, что степень ионности связи в SmS уменьшается по мере уменьшения величины области когерентного рассеяния рентгеновского излучения, увеличения концентрации донорных примесей и, как следствие, концентрации электронов проводимости. В моно- и поликристаллах SmS стехиометрического состава электропроводность может с точностью 10% определяться из инфракрасных спектров отражения. При отклонении от стехиометрии повышенная дефектность образцов не дает возможности определять электропроводность.