Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2018, том 52, выпуск 2, страницы 171–176
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2018.02.45439.8672
(Mi phts5912)
 

Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)

Электронные свойства полупроводников

Электрически активные состояния захвата и переноса заряда, обусловливающие медленную рекомбинацию в кристаллах бромида таллия при низких температурах

В. Кажукаускас, Р. Гарбачаускас, С. Савицки

Кафедра физики полупроводников и Институт прикладных исследований, Вильнюсский университет, Вильнюс, Литва
Аннотация: Исследовались образцы монокристаллов TlBr, выращенных по методу Бриджмена–Стокбаргера. Установлено, что при межзонном возбуждении светом при температурах ниже 200 K проявляются эффекты замороженной проводимости. При этом выявляются ярко выраженные сверхлинейные зависимости индуцированной (фото-) проводимости от напряженности приложенного электрического поля. Как свидетельствуют результаты исследования термостимулированной проводимости, эти явления могут быть связаны с заполнением ловушечных состояний с энергиями термической активации 0.08–0.12 эВ. Это состояние может быть снято в результате термического гашения при температурах $\gtrsim$ 180 K из-за опустошения заполненных после оптической генерации энергетических состояний с энергией активации 0.63–0.65 эВ.
Поступила в редакцию: 28.06.2017
Принята в печать: 05.07.2017
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2018, Volume 52, Issue 2, Pages 160–164
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782618020057
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: В. Кажукаускас, Р. Гарбачаускас, С. Савицки, “Электрически активные состояния захвата и переноса заряда, обусловливающие медленную рекомбинацию в кристаллах бромида таллия при низких температурах”, Физика и техника полупроводников, 52:2 (2018), 171–176; Semiconductors, 52:2 (2018), 160–164
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{KazGarSav18}
\by В.~Кажукаускас, Р.~Гарбачаускас, С.~Савицки
\paper Электрически активные состояния захвата и переноса заряда, обусловливающие медленную рекомбинацию в кристаллах бромида таллия при низких температурах
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2018
\vol 52
\issue 2
\pages 171--176
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts5912}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2018.02.45439.8672}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=32739657}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2018
\vol 52
\issue 2
\pages 160--164
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782618020057}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts5912
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v52/i2/p171
  • Эта публикация цитируется в следующих 2 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:41
    PDF полного текста:15
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024