Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2018, том 52, выпуск 3, страницы 291–294
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2018.03.45610.8536
(Mi phts5886)
 

Электронные свойства полупроводников

Электрический пробой в чистом $n$- и $p$-Si

В. Ф. Баннаяa, Е. В. Никитинаb

a Московский государственный педагогический университет, Москва
b Российский университет дружбы народов, г. Москва
Аннотация: Представлены результаты расчета зависимостей кинетических коэффициентов ударной ионизации и термической рекомбинации от электрического поля в чистом кремнии. По аналогии с германием рассчитаны зависимости поля электрического пробоя $E_{\operatorname{br}}$ от степени компенсации материала $K$. Дано подробное обоснование правомочности такого расчета. Представлены кривые $E_{\operatorname{br}}(K)$ и проведено сравнение с экспериментальными данными в области слабых компенсаций. Выполнена привязка к экспериментальным результатам, при которой наблюдается удовлетворительное соответствие теории и эксперимента.
Поступила в редакцию: 06.02.2017
Принята в печать: 13.02.2017
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2018, Volume 52, Issue 3, Pages 273–277
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782618030065
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: В. Ф. Банная, Е. В. Никитина, “Электрический пробой в чистом $n$- и $p$-Si”, Физика и техника полупроводников, 52:3 (2018), 291–294; Semiconductors, 52:3 (2018), 273–277
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{BanNik18}
\by В.~Ф.~Банная, Е.~В.~Никитина
\paper Электрический пробой в чистом $n$- и $p$-Si
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2018
\vol 52
\issue 3
\pages 291--294
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts5886}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2018.03.45610.8536}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=32739677}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2018
\vol 52
\issue 3
\pages 273--277
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782618030065}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts5886
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v52/i3/p291
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:28
    PDF полного текста:8
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024