Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2018, том 52, выпуск 6, страницы 664–670
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2018.06.45933.8757
(Mi phts5819)
 

Эта публикация цитируется в 10 научных статьях (всего в 10 статьях)

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Лазерно-индуцированная модификация поверхности тонких пленок Ge$_{2}$Sb$_{2}$Te$_{5}$: фазовые изменения и формирование периодических структур

С. А. Яковлевa, А. В. Анкудиновab, Ю. В. Воробьевc, М. М. Вороновa, С. А. Козюхинd, Б. Т. Мелехa, А. Б. Певцовa

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики
c Рязанский государственный радиотехнический университет
d Институт общей и неорганической химии им. Н. С. Курнакова РАН, г. Москва
Аннотация: На поверхности пленочных материалов с фазовой памятью на основе сложного халькогенида (Ge$_{2}$Sb$_{2}$Te$_{5}$) под действием лазерных импульсов наносекундной длительности сформированы субмикронные периодические решетки. Геометрические характеристики и структурные свойства лазерно-индуцированных решеток исследованы с помощью оптической и атомно-силовой микроскопии, а также рамановской спектроскопии. Показано, что при специально подобранных параметрах лазерного воздействия в созданных структурах можно реализовать периодическую модуляцию показателя преломления, обусловленную застыванием после лазерного воздействия гребней и впадин решеток в разных фазовых состояниях, диэлектрические константы которых сильно отличаются друг от друга. Вблизи максимумов волнообразной структуры формируется преимущественно аморфное состояние, в то время как в области минимумов структура Ge$_{2}$Sb$_{2}$Te$_{5}$ в основном соответствует кристаллической фазе.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российская академия наук - Федеральное агентство научных организаций 07
Министерство образования и науки Российской Федерации 074-U01
3.6924.2017/ИТР
Российский фонд фундаментальных исследований 17-03-00450
С.А. Яковлев и М.М. Воронов благодарят за поддержку программу президиума РАН № 07 “Актуальные проблемы фотоники, зондирование неоднородных материалов”. А.В. Анкудинов благодарен государственной финансовой поддержке ведущих университетов РФ (субсидия 074-U01). С.А. Козюхин выражает благодарность РФФИ (грант № 17-03-00450) за поддержку структурных исследований методами рентгеновского анализа. Ю.В. Воробьев благодарит за поддержку Министерство образования и науки РФ (3.6924.2017/ИТР).
Поступила в редакцию: 31.10.2017
Принята в печать: 08.11.2017
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2018, Volume 52, Issue 6, Pages 809–815
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782618060246
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: С. А. Яковлев, А. В. Анкудинов, Ю. В. Воробьев, М. М. Воронов, С. А. Козюхин, Б. Т. Мелех, А. Б. Певцов, “Лазерно-индуцированная модификация поверхности тонких пленок Ge$_{2}$Sb$_{2}$Te$_{5}$: фазовые изменения и формирование периодических структур”, Физика и техника полупроводников, 52:6 (2018), 664–670; Semiconductors, 52:6 (2018), 809–815
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{YakAnkVor18}
\by С.~А.~Яковлев, А.~В.~Анкудинов, Ю.~В.~Воробьев, М.~М.~Воронов, С.~А.~Козюхин, Б.~Т.~Мелех, А.~Б.~Певцов
\paper Лазерно-индуцированная модификация поверхности тонких пленок Ge$_{2}$Sb$_{2}$Te$_{5}$: фазовые изменения и формирование периодических структур
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2018
\vol 52
\issue 6
\pages 664--670
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts5819}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2018.06.45933.8757}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=37051686}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2018
\vol 52
\issue 6
\pages 809--815
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782618060246}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts5819
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v52/i6/p664
  • Эта публикация цитируется в следующих 10 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:59
    PDF полного текста:41
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024