|
Эта публикация цитируется в 8 научных статьях (всего в 8 статьях)
Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур
Влияние степени нитридизации сапфира и обогащения алюминием зародышевого слоя на структурные свойства слоев AlN
Т. В. Малинa, Д. С. Милахинa, В. Г. Мансуровa, Ю. Г. Галицынa, А. С. Кожуховa, В. В. Ратниковb, А. Н. Смирновb, В. Ю. Давыдовb, К. С. Журавлевac a Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, г. Новосибирск
b Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
c Новосибирский государственный университет
Аннотация:
Изучено влияние атомарного алюминия, нанесенного на подложку сапфира, нитридизованную в разной степени, на качество слоев AlN, выращенных методом аммиачной молекулярно-лучевой эпитаксии. Нитридизация сапфира с формированием на его поверхности $\sim$1 монослоя AlN обеспечивает рост слоев с более гладкой поверхностью и лучшего кристаллического качества по сравнению нитридизацией сапфира, приводящей к формированию нитридизованного слоя AlN толщиной $\sim$2 монослоя. Изменение времени экспонирования нитридизованных подложек в потоке атомарного алюминия существенного влияния на параметры последующих слоeв AlN не оказывает.
Поступила в редакцию: 04.04.2017 Принята в печать: 10.04.2017
Образец цитирования:
Т. В. Малин, Д. С. Милахин, В. Г. Мансуров, Ю. Г. Галицын, А. С. Кожухов, В. В. Ратников, А. Н. Смирнов, В. Ю. Давыдов, К. С. Журавлев, “Влияние степени нитридизации сапфира и обогащения алюминием зародышевого слоя на структурные свойства слоев AlN”, Физика и техника полупроводников, 52:6 (2018), 643–650; Semiconductors, 52:6 (2018), 789–796
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts5816 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v52/i6/p643
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 59 | PDF полного текста: | 32 |
|