Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2018, том 52, выпуск 6, страницы 643–650
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2018.06.45930.8600
(Mi phts5816)
 

Эта публикация цитируется в 8 научных статьях (всего в 8 статьях)

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Влияние степени нитридизации сапфира и обогащения алюминием зародышевого слоя на структурные свойства слоев AlN

Т. В. Малинa, Д. С. Милахинa, В. Г. Мансуровa, Ю. Г. Галицынa, А. С. Кожуховa, В. В. Ратниковb, А. Н. Смирновb, В. Ю. Давыдовb, К. С. Журавлевac

a Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, г. Новосибирск
b Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
c Новосибирский государственный университет
Аннотация: Изучено влияние атомарного алюминия, нанесенного на подложку сапфира, нитридизованную в разной степени, на качество слоев AlN, выращенных методом аммиачной молекулярно-лучевой эпитаксии. Нитридизация сапфира с формированием на его поверхности $\sim$1 монослоя AlN обеспечивает рост слоев с более гладкой поверхностью и лучшего кристаллического качества по сравнению нитридизацией сапфира, приводящей к формированию нитридизованного слоя AlN толщиной $\sim$2 монослоя. Изменение времени экспонирования нитридизованных подложек в потоке атомарного алюминия существенного влияния на параметры последующих слоeв AlN не оказывает.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский фонд фундаментальных исследований 17-02-00947
16-32-00773
16-02-00702
Исследование выполнено при финансовой поддержке РФФИ (17-02-00947, 16-32-00773, 16-02-00702).
Поступила в редакцию: 04.04.2017
Принята в печать: 10.04.2017
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2018, Volume 52, Issue 6, Pages 789–796
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782618060143
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Т. В. Малин, Д. С. Милахин, В. Г. Мансуров, Ю. Г. Галицын, А. С. Кожухов, В. В. Ратников, А. Н. Смирнов, В. Ю. Давыдов, К. С. Журавлев, “Влияние степени нитридизации сапфира и обогащения алюминием зародышевого слоя на структурные свойства слоев AlN”, Физика и техника полупроводников, 52:6 (2018), 643–650; Semiconductors, 52:6 (2018), 789–796
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{MalMilMan18}
\by Т.~В.~Малин, Д.~С.~Милахин, В.~Г.~Мансуров, Ю.~Г.~Галицын, А.~С.~Кожухов, В.~В.~Ратников, А.~Н.~Смирнов, В.~Ю.~Давыдов, К.~С.~Журавлев
\paper Влияние степени нитридизации сапфира и обогащения алюминием зародышевого слоя на структурные свойства слоев AlN
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2018
\vol 52
\issue 6
\pages 643--650
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts5816}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2018.06.45930.8600}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=37051682}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2018
\vol 52
\issue 6
\pages 789--796
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782618060143}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts5816
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v52/i6/p643
  • Эта публикация цитируется в следующих 8 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:44
    PDF полного текста:18
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024