Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2018, том 52, выпуск 7, страницы 702–707
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2018.07.46038.8759
(Mi phts5776)
 

Эта публикация цитируется в 7 научных статьях (всего в 7 статьях)

Спектроскопия, взаимодействие с излучениями

Влияние примеси бора на излучательные свойства дислокационных структур в кремнии, сформированных путем имплантации ионов Si$^{+}$

А. Н. Терещенкоab, Д. С. Королевb, А. Н. Михайловb, А. И. Беловb, А. А. Никольскаяb, Д. А. Павловb, Д. И. Тетельбаумb, Э. А. Штейнманa

a Институт физики твердого тела Российской академии наук, г. Черноголовка Московской обл.
b Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского
Аннотация: Исследовано влияние имплантации бора на излучательные свойства дислокационных структур в кремнии, сформированных путем имплантации ионов Si$^{+}$ с последующим отжигом. Показано, что имплантация ионов B$^{+}$ существенным образом влияет как на интенсивность и состав спектра дислокационной люминесценции, так и на ход температурной зависимости интенсивности полосы D1. Обнаружено, что зависимость не является монотонной и имеет две области возрастания интенсивности полосы D1 с ростом температуры, образуя максимумы при 20 и 60–70 K на температурной зависимости. Максимум при 20 K связан с особенностями морфологии исследуемой дислокационной структуры, в то время как максимум при 60–70 K связан с дополнительной имплантацией примеси бора в дислокационную область образцов. Установлено, что интенсивности наблюдаемых максимумов, а также положение высокотемпературного максимума зависят от концентрации имплантированных ионов B$^{+}$.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский фонд фундаментальных исследований 17-02-01070
16-32-50184
Министерство образования и науки Российской Федерации 16.2737.2017/4.6
Сп-1147.2018.3
Работа выполнена при частичной поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (гранты № 17-02-01070 и 16-32-50184), а также частично при поддержке Министерства образования и науки России в рамках государственного задания (№ 16.2737.2017/4.6). Д.С. Королев благодарит за поддержку Совет по грантам Президента РФ (стипендия Сп-1147.2018.3).
Поступила в редакцию: 31.10.2017
Принята в печать: 08.11.2017
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2018, Volume 52, Issue 7, Pages 843–848
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782618070229
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: А. Н. Терещенко, Д. С. Королев, А. Н. Михайлов, А. И. Белов, А. А. Никольская, Д. А. Павлов, Д. И. Тетельбаум, Э. А. Штейнман, “Влияние примеси бора на излучательные свойства дислокационных структур в кремнии, сформированных путем имплантации ионов Si$^{+}$”, Физика и техника полупроводников, 52:7 (2018), 702–707; Semiconductors, 52:7 (2018), 843–848
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{TerKorMik18}
\by А.~Н.~Терещенко, Д.~С.~Королев, А.~Н.~Михайлов, А.~И.~Белов, А.~А.~Никольская, Д.~А.~Павлов, Д.~И.~Тетельбаум, Э.~А.~Штейнман
\paper Влияние примеси бора на излучательные свойства дислокационных структур в кремнии, сформированных путем имплантации ионов Si$^{+}$
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2018
\vol 52
\issue 7
\pages 702--707
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts5776}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2018.07.46038.8759}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=35269398}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2018
\vol 52
\issue 7
\pages 843--848
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782618070229}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts5776
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v52/i7/p702
  • Эта публикация цитируется в следующих 7 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:32
    PDF полного текста:9
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024