Низкочастотная диэлектрическая релаксация в стеклообразной системе Ge$_{28.5}$Рb$_{15}$S$_{56.5}$ с примесью железа

Приведены результаты исследования процессов диэлектрической релаксации в стеклообразной системе Ge$_{28.5}$Рb$_{15}$S$_{56.5}$. Введение примеси железа в матрицу стекла приводит к резкому увеличению значения диэлектрической проницаемости $\varepsilon'$ и уменьшению величины диэлектрических потерь $\operatorname{tg}\delta$. Обнаруженные закономерности объясняются в рамках кластерной модели структуры (двухфазной модели) легированного стекла.