|
Эта публикация цитируется в 8 научных статьях (всего в 8 статьях)
Физика полупроводниковых приборов
Влияние электростатического поля периферии на вентильный фотоэффект в контактах металл-полупроводник с барьером Шоттки
Н. А. Торховabc a Научно-исследовательский институт полупроводниковых приборов, Томск
b Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники
c Национальный исследовательский Томский государственный университет
Аннотация:
Исследования электростатической системы плоских контактов металл-полупроводник с барьером Шоттки выявили нетривиальную зависимость их токовой и вольтовой фоточувствительностей (вентильного фотоэффекта) от формы контактов. Особенности использования вентильного фотоэффекта в таких контактах во многом определяются встроенным электростатическим полем периферии, модуль которого зависит от периметра и площади контактов. Таким образом, повышение эффективности преобразования контактами Шоттки световой энергии в электрическую требует использования методов оптимизации, в основе которых лежат изложенные в данной работе положения физической модели электростатической системы плоских контактов Шоттки с учетом электростатических полей периферии. Эффект “резонанса горячих электронов”, приводящий к увеличению внешней квантовой эффективности фотодиодов с барьером Шоттки, может быть объяснен усилением полевой эмиссии электронов электростатическим полем периферии.
Поступила в редакцию: 20.04.2017 Принята в печать: 04.12.2017
Образец цитирования:
Н. А. Торхов, “Влияние электростатического поля периферии на вентильный фотоэффект в контактах металл-полупроводник с барьером Шоттки”, Физика и техника полупроводников, 52:10 (2018), 1150–1171; Semiconductors, 52:10 (2018), 1269–1292
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts5709 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v52/i10/p1150
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 47 | PDF полного текста: | 27 |
|