Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2018, том 52, выпуск 12, страницы 1512–1517
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2018.12.46767.8892
(Mi phts5670)
 

Углеродные системы

Переход между электронной локализацией и антилокализацией, а также проявление фазы Берри в графене на поверхности SiC

Н. В. Агринскаяa, А. А. Лебедевa, С. П. Лебедевb, М. А. Шаховa, E. Lahderantac

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики
c Department of Mathematics and Physics, Lappeenranta University of Technology, Lappeenranta, Finland
Аннотация: Показано, что транспортные свойства графитизированного карбида кремния определяются слоем графена на поверхности SiC, сильно легированным электронами. В слабых магнитных полях и при низких температурах наблюдалось отрицательное магнетосопротивление, являющееся следствием слабой локализации. Впервые в таких образцах в магнетосопротивлении при повышении температуры наблюдался переход от слабой локализации к слабой антилокализации (последняя является проявлением изоспина в графене). В сильных магнитных полях (до 30 Тл) наблюдалась выраженная картина осцилляций Шубникова–де Гааза, которая демонстрирует 4-кратное вырождение спектра носителей вследствие двойного спинового и двойного долинного вырождений, а также проявление фазы Берри. Оценена эффективная масса электронов $m^{*}$ = 0.08$m_{0}$, которая характерна для графена с высокой концентрацией носителей.
Поступила в редакцию: 17.04.2018
Принята в печать: 27.05.2018
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2018, Volume 52, Issue 12, Pages 1616–1620
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782618120023
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Н. В. Агринская, А. А. Лебедев, С. П. Лебедев, М. А. Шахов, E. Lahderanta, “Переход между электронной локализацией и антилокализацией, а также проявление фазы Берри в графене на поверхности SiC”, Физика и техника полупроводников, 52:12 (2018), 1512–1517; Semiconductors, 52:12 (2018), 1616–1620
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{AgrLebLeb18}
\by Н.~В.~Агринская, А.~А.~Лебедев, С.~П.~Лебедев, М.~А.~Шахов, E.~Lahderanta
\paper Переход между электронной локализацией и антилокализацией, а также проявление фазы Берри в графене на поверхности SiC
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2018
\vol 52
\issue 12
\pages 1512--1517
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts5670}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2018.12.46767.8892}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=36903644}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2018
\vol 52
\issue 12
\pages 1616--1620
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782618120023}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts5670
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v52/i12/p1512
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:22
    PDF полного текста:6
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024