Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Физика и техника полупроводников, 2018, том 52, выпуск 13, страницы 1584–1588
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2018.13.46871.8835 (Mi phts5633) 		 
Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)

Поверхность, границы раздела, тонкие пленки

Оптические исследования теплопереноса в тонких пленках PbTe : Bi(Sb)

Е. В. Ивакинa, И. Г. Киселёвa, Л. И. Никируйb, Я. С. Яворскийb

a Институт физики им. Б. И. Степанова НАН Беларуси, г. Минск
b Прикарпатский национальный университет им. В. Стефаника, г. Ивано-Франковск
PDF полного текста (348 kB) Список цитирования (4)
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2018.13.46871.8835
Аннотация: Исследованы электрические и тепловые свойства синтезированных методом термического испарения в вакууме пленок теллурида свинца толщиной от 0.3 до 2.4 мкм, легированных сурьмой и висмутом. Путем возбуждения поверхностных динамических решеток проведено бесконтактное измерение тангенциальной температуропроводности и показано, что разработанная технология легирования приводит к заметному уменьшению данного параметра теплопереноса по сравнению с беспримесным PbTe.
Финансовая поддержка Номер гранта
Белорусский республиканский фонд фундаментальных исследований Ф13К-063
Ф16К-054
Национальный исследовательский фонд Украины F73/38-2017
Работа выполнена при финансовой поддержке Белорусского республиканского фонда фундаментальных исследований (гранты № Ф13К-063 и № Ф16К-054), а также государственного фонда фундаментальных исследований Украины (грант № F73/38-2017).
Поступила в редакцию: 05.02.2018
Принята в печать: 12.02.2018
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2018, Volume 52, Issue 13, Pages 1691–1695
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782618130067
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Е. В. Ивакин, И. Г. Киселёв, Л. И. Никируй, Я. С. Яворский, “Оптические исследования теплопереноса в тонких пленках PbTe : Bi(Sb)”, Физика и техника полупроводников, 52:13 (2018), 1584–1588; Semiconductors, 52:13 (2018), 1691–1695
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{IvaKisNyk18}
\by Е.~В.~Ивакин, И.~Г.~Киселёв, Л.~И.~Никируй, Я.~С.~Яворский
\paper Оптические исследования теплопереноса в тонких пленках PbTe : Bi(Sb)
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2018
\vol 52
\issue 13
\pages 1584--1588
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts5633}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2018.13.46871.8835}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=36903658}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2018
\vol 52
\issue 13
\pages 1691--1695
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782618130067}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts5633
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v52/i13/p1584
    • Эта публикация цитируется в следующих 4 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:43
    PDF полного текста:13
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024