Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, выпуск 1, страницы 132–136 (Mi phts5624)  

Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Осаждение пленок кремния, легированных бором и фосфором газоструйным плазмохимическим методом

В. Г. Щукин, Р. Г. Шарафутдинов, В. О. Константинов

Институт теплофизики им. С.С. Кутателадзе Сибирского отделения Российской академии наук
Аннотация: С использованием диборана и фосфина в качестве легирующих газов методом газоструйного плазмохимического осаждения с применением электронного пучка были получены легированные пленки кремния. Исследовано влияние концентрации легирующего газа, добавки фторсодержащего газа и фонового давления на проводимость и кристаллическую структуру кремниевых слоев. Получены легированные бором аморфные пленки ($\alpha$-Si:H) с проводимостью до 5.2 $\cdot$ 10$^{-3}$ (Ом $\cdot$ см)$^{-1}$, при легировании фосфором получены микрокристаллические пленки кремния ($mc$-Si:H), имеющие кристалличность до 70% и значения проводимости на уровне 1 (Ом $\cdot$ см)$^{-1}$.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российская академия наук - Федеральное агентство научных организаций 01201350443
Работа выполнена за счет средств, полученных от ФАНО России (проект гос. рег. 01201350443 “Фундаментальные теплофизические проблемы при росте кристаллов и пленок”).
Поступила в редакцию: 22.05.2018
Исправленный вариант: 25.06.2018
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2019, Volume 53, Issue 1, Pages 127–131
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782619010184
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: В. Г. Щукин, Р. Г. Шарафутдинов, В. О. Константинов, “Осаждение пленок кремния, легированных бором и фосфором газоструйным плазмохимическим методом”, Физика и техника полупроводников, 53:1 (2019), 132–136; Semiconductors, 53:1 (2019), 127–131
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{ShcShaKon19}
\by В.~Г.~Щукин, Р.~Г.~Шарафутдинов, В.~О.~Константинов
\paper Осаждение пленок кремния, легированных бором и фосфором газоструйным плазмохимическим методом
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2019
\vol 53
\issue 1
\pages 132--136
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts5624}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=37476683 }
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2019
\vol 53
\issue 1
\pages 127--131
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782619010184}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts5624
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v53/i1/p132
  • Эта публикация цитируется в следующих 2 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:44
    PDF полного текста:10
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024