|
Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, выпуск 1, страницы 132–136
(Mi phts5624)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)
Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур
Осаждение пленок кремния, легированных бором и фосфором газоструйным плазмохимическим методом
В. Г. Щукин, Р. Г. Шарафутдинов, В. О. Константинов Институт теплофизики им. С.С. Кутателадзе Сибирского отделения Российской академии наук
Аннотация:
С использованием диборана и фосфина в качестве легирующих газов методом газоструйного плазмохимического осаждения с применением электронного пучка были получены легированные пленки кремния. Исследовано влияние концентрации легирующего газа, добавки фторсодержащего газа и фонового давления на проводимость и кристаллическую структуру кремниевых слоев. Получены легированные бором аморфные пленки ($\alpha$-Si:H) с проводимостью до 5.2 $\cdot$ 10$^{-3}$ (Ом $\cdot$ см)$^{-1}$, при легировании фосфором получены микрокристаллические пленки кремния ($mc$-Si:H), имеющие кристалличность до 70% и значения проводимости на уровне 1 (Ом $\cdot$ см)$^{-1}$.
Поступила в редакцию: 22.05.2018 Исправленный вариант: 25.06.2018
Образец цитирования:
В. Г. Щукин, Р. Г. Шарафутдинов, В. О. Константинов, “Осаждение пленок кремния, легированных бором и фосфором газоструйным плазмохимическим методом”, Физика и техника полупроводников, 53:1 (2019), 132–136; Semiconductors, 53:1 (2019), 127–131
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts5624 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v53/i1/p132
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 46 | PDF полного текста: | 15 |
|