Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, выпуск 2, страницы 169–173
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2019.02.47094.8899
(Mi phts5582)
 

Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)

Поверхность, границы раздела, тонкие пленки

Лазерный отжиг тонких пленок ITO на гибких органических подложках

Л. С. Паршинаa, О. А. Новодворскийa, О. Д. Храмоваa, А. А. Лотинa, М. Д. Хоменкоa, П. А. Щурb

a Институт проблем лазерных и информационных технологий РАН – филиал Федерального государственного учреждения Федеральный научно-исследовательский центр "Кристаллография и фотоника" Российской академии наук, Шатура, Россия
b Федеральное государственное унитарное предприятие "Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов" Государственного научного центра Российской Федерации, Москва, Россия
Аннотация: Методом реактивного магнетронного распыления на пленочных подложках из полиэтилентерефталата при комнатной температуре получены тонкие пленки оксида индия и олова. Минимум удельного сопротивления пленок оксида индия и олова, полученных при комнатной температуре, составил 4.5 $\cdot$ 10$^{-4}$ Ом $\cdot$ см. Лазерный отжиг пленок оксида индия и олова толщиной от 140 до 600 нм увеличивает их проводимость от 10 до 24% в зависимости от плотности энергии на пленке и дозы облучения. Установлено, что лазерный отжиг пленок толщиной до 250 нм эффективен при плотности энергии в диапазоне от 12 до 35 мДж/см$^{2}$. Пленки толщиной от 390 до 600 нм необходимо отжигать лазерным излучением с плотностью энергии не менее 46 мДж/см$^{2}$. Рассмотрена модельная задача, учитывающая влияние лучистого охлаждения и теплообмена пленки и подложки на изменение температуры пленки во времени в процессе лазерного отжига. Было использовано одномерное уравнение теплопроводности для двухслойной среды. Рассчитаны максимальные напряжения в пленке оксида индия и олова при различных режимах отжига.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российская академия наук - Федеральное агентство научных организаций 007-ГЗ/Ч3363/26
Российский фонд фундаментальных исследований 15-29-01171
16-29-05385
16-07-00842
16-29-11800
17-07-00615
Работа выполнена при поддержке Федерального агентства научных организаций (соглашение № 007-ГЗ/Ч3363/26) в части проведения лазерного отжига пленок, а также при поддержке грантов РФФИ № 15-29-01171, 16-29-05385, 16-07-00842, 16-29-11800, 17-07-00615.
Поступила в редакцию: 24.04.2018
Исправленный вариант: 21.05.2018
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2019, Volume 53, Issue 2, Pages 160–164
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782619020192
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Л. С. Паршина, О. А. Новодворский, О. Д. Храмова, А. А. Лотин, М. Д. Хоменко, П. А. Щур, “Лазерный отжиг тонких пленок ITO на гибких органических подложках”, Физика и техника полупроводников, 53:2 (2019), 169–173; Semiconductors, 53:2 (2019), 160–164
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{ParNovKhr19}
\by Л.~С.~Паршина, О.~А.~Новодворский, О.~Д.~Храмова, А.~А.~Лотин, М.~Д.~Хоменко, П.~А.~Щур
\paper Лазерный отжиг тонких пленок ITO на гибких органических подложках
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2019
\vol 53
\issue 2
\pages 169--173
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts5582}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2019.02.47094.8899}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=37476759}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2019
\vol 53
\issue 2
\pages 160--164
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782619020192}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts5582
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v53/i2/p169
  • Эта публикация цитируется в следующих 4 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:33
    PDF полного текста:30
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024